Small Delay Testing Using On-chip Delay Measurement

Persistent ID (NDL): info:ndljp/pid/9901985

Material type: 博士論文

Author: 張, 文坡

Publisher: 千葉大学

Publication date: 2015-03-25

Material Format: Digital

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Name of awarding university/degree: 千葉大学,博士(工学)

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Note (General)：: type:text研究科: 千葉大学大学院融合科学研究科学位:千大院融博甲第工48号

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Digital

Material Type: 博士論文
Title: Small Delay Testing Using On-chip Delay Measurement
Author/Editor: 張, 文坡
Author Heading: 張, 文坡
Publication, Distribution, etc.: 千葉大学
Publication Date: 2015-03-25
Publication Date (W3CDTF): 2015-03-25
Alternative Title: オンチップ遅延測定を用いた微小遅延テスト
Contributor: 千葉大学大学院融合科学研究科
Degree grantor/type: 千葉大学
Date Granted: 2015-03-25
Date Granted (W3CDTF): 2015-03-25
Dissertation Number: 甲第5391号
Degree Type: 博士(工学)
Conferring No. (Dissertation): 甲第5391号
Text Language Code: eng
Target Audience: 一般
Note (General): type:text
研究科: 千葉大学大学院融合科学研究科
学位:千大院融博甲第工48号
Persistent ID (NDL): info:ndljp/pid/9901985
https://dl.ndl.go.jp/pid/9901985
Collection: 障害者向け資料
Collection (Materials For Handicapped People:1): テキストデータ
Collection (particular): 国立国会図書館デジタルコレクション > デジタル化資料 > 博士論文
https://dl.ndl.go.jp/collections/A00014
Acquisition Basis: 博士論文（自動収集）
Date Accepted (W3CDTF): 2016-03-01T12:53:35+09:00
Date Created (W3CDTF): 2016-01-27
Format (IMT): application/pdf
Access Restrictions: 国立国会図書館内限定公開
Service for the Digitized Contents Transmission Service: 図書館・個人送信対象外
Availability of remote photoduplication service: 可
Periodical Title (URI): https://opac.ll.chiba-u.jp/da/curator/900119194/
Data Provider (Database): 国立国会図書館 : 国立国会図書館デジタルコレクション
https://dl.ndl.go.jp