走査プローブ顕微鏡による表面ポテンシャル分布の高精度測定

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Material Type: 図書
Title: 走査プローブ顕微鏡による表面ポテンシャル分布の高精度測定
Title Transcription: ソウサプローブケンビキョウニヨルヒョウメンポテンシャルブンプノコウセイドソクテイ
Author/Editor: 研究代表者長谷川幸雄
Author Heading: 長谷川, 幸雄ハセガワ, ユキオ
https://ci.nii.ac.jp/author/DA1357254X
浜田, 雅之ハマダ, マサユキ
Publication, Distribution, etc.: 長谷川幸雄
Publication Date: 2008.6
Publication Date (W3CDTF): 2008
Size: 30cm
Alternative Title: 平成17年度〜平成18年度科学研究費補助金(基盤研究(B))研究成果報告書
文部科学省科学研究費補助金(基盤研究(B))研究成果報告書
Place of Publication (Country Code): ja
Target Audience: 一般
Note (General): 研究分担者:浜田雅之
課題番号:17360018
研究代表者の所属:東京大学物性研究所
Related Material (URI): https://ci.nii.ac.jp/ncid/BA88056896#entity
Data Provider (Database): 国立情報学研究所 : CiNii Research
Original Data Provider (Database): CiNii Books
https://ci.nii.ac.jp/books
NCID: https://ci.nii.ac.jp/ncid/BA88056896 : BA88056896