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テストデータの圧縮・展開を指向したテストアーキテクチャに関する研究

テストデータの圧縮・展開を指向したテストアーキテクチャに関する研究
Paper図書
市原英行, 広島市立大学 [著][市原英行]2003-2005<Y151-H15300021>
National Diet Library

テスト生成手法を用いた論理回路設計に関する研究

テスト生成手法を用いた論理回路設計に関する研究
PaperDigital博士論文障害者向け資料あり
市原英行 [著]<UT51-2000-H3>
Available onlineNational Diet Library

テストデータ削減のための必須割当に基づくテストポイント挿入法

テストデータ削減のための必須割当に基づくテストポイント挿入法
Digital文書・図像類
平本, 和子, 吉川, 祐樹, 市原, 英行, 井上, 智生, HIRAMOTO, Kazuko, YOSHIKAWA, Yuki, ICHIHARA, Hideyuki, INOUE, Tomoo情報処理学会2008-11-10情報処理学会研究報告. SLDM, [システムLSI設計技術]2008 111p.121-126
Other Libraries in Japan
  • Author Heading平本, 和子 吉川, 祐樹 市原, 英行 井上, 智生 HIRAMOTO, Kazuko YOSHIKAWA, Yuki ICHIHARA, Hideyuki INOUE, Tomoo

伝搬支配性に着目した遅延テストのためのハイブリッドスキャン設計

伝搬支配性に着目した遅延テストのためのハイブリッドスキャン設計
Digital文書・図像類
怒和, 友美, 吉川, 祐樹, 市原, 英行, 井上, 智生, NUWA, Tomomi, YOSHIKAWA, Yuki, ICHIHARA, Hideyuki, INOUE, Tomoo情報処理学会2008-11-10情報処理学会研究報告. SLDM, [システムLSI設計技術]2008 111p.127-132
Other Libraries in Japan
  • Author Heading怒和, 友美 吉川, 祐樹 市原, 英行 井上, 智生 NUWA, Tomomi YOSHIKAWA, Yuki ICHIHARA, Hideyuki INOUE, Tomoo

平衡構造に基づく階層テストにおけるテストプラン生成法

平衡構造に基づく階層テストにおけるテストプラン生成法
Digital文書・図像類
川原, 侑大, 市原, 英行, 井上, 智生, KAWAHARA, Yudai, ICHIHARA, Hideyuki, INOUE, Tomoo情報処理学会2006-11-28情報処理学会研究報告. SLDM, [システムLSI設計技術]2006 126p.23-28
Other Libraries in Japan
  • Author Heading川原, 侑大 市原, 英行 井上, 智生 KAWAHARA, Yudai ICHIHARA, Hideyuki INOUE, Tomoo

動的再構成可能なプロセッサの自己テストに関する考察

動的再構成可能なプロセッサの自己テストに関する考察
Digital文書・図像類
藤井, 昂志, 市原, 英行, 井上, 智生, FUJII, Takashi, ICHIHARA, Hideyuki, INOUE, Tomoo情報処理学会2006-11-28情報処理学会研究報告. SLDM, [システムLSI設計技術]2006 126p.65-70
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  • Author Heading藤井, 昂志 市原, 英行 井上, 智生 FUJII, Takashi ICHIHARA, Hideyuki INOUE, Tomoo

マルチメディアコアの展開機能を利用したテストデータ圧縮・展開

マルチメディアコアの展開機能を利用したテストデータ圧縮・展開
Digital文書・図像類
瀬戸原, 志典, 中島, 佑介, 市原, 英行, 井上, 智生, SETOHARA, Yukinori, NAKASHIMA, Yusuke, ICHIHARA, Hideyuki, INOUE, Tomoo情報処理学会2006-11-28情報処理学会研究報告. SLDM, [システムLSI設計技術]2006 126p.29-34
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  • Author Heading瀬戸原, 志典 中島, 佑介 市原, 英行 井上, 智生 SETOHARA, Yukinori NAKASHIMA, Yusuke ICHIHARA, Hideyuki INOUE, Tomoo

無閉路可検査性に基づくテスト生成のための最適スルー木集合構成法

無閉路可検査性に基づくテスト生成のための最適スルー木集合構成法
Digital文書・図像類
森永, 広介, 岡, 伸也, 吉川, 祐樹, 市原, 英行, 井上, 智生, MORINAGA, Kohsuke, OKA, Nobuya, YOSHIKAWA, Yuki, ICHIHARA, Hideyuki, INOUE, Tomoo情報処理学会2007-11-20情報処理学会研究報告. SLDM, [システムLSI設計技術]2007 114p.13-18
Other Libraries in Japan
  • Author Heading...OSHIKAWA, Yuki ICHIHARA, Hideyuki INOUE, Tomoo

強可検査性に基づくデータパスのテストプラン生成アルゴリズムの改良について

強可検査性に基づくデータパスのテストプラン生成アルゴリズムの改良について
Digital文書・図像類
岡本, 直己, 市原, 英行, 井上, 智生, 細川, 利典, 藤原, 秀雄, OKAMOTO, Naoki, ICHIHARA, Hideyuki, INOUE, Tomoo, HOSOKAWA, Toshinori, FUJIWARA, Hideo情報処理学会2003-11-27情報処理学会研究報告. SLDM, [システムLSI設計技術]2003 120p.43-48
Other Libraries in Japan
  • Author Heading...OKAMOTO, Naoki ICHIHARA, Hideyuki INOUE, Tomoo HOSOKAWA, Toshin...

組合せ回路の冗長除去における含意関係の不変性について

組合せ回路の冗長除去における含意関係の不変性について
Digital文書・図像類
梶原, 誠司, 市原, 英行, 樹下, 行三, KAJIHARA, Seiji, ICHIHARA, Hideyuki, KINOSHITA, Kozo情報処理学会1995-10-19情報処理学会研究報告. 設計自動化研究会報告95 99p.105-111
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  • Author Heading梶原, 誠司 市原, 英行 樹下, 行三 KAJIHARA, Seiji ICHIHARA, Hideyuki KINOSHITA, Kozo

テスト生成手法を用いた論理回路設計に関する研究

テスト生成手法を用いた論理回路設計に関する研究
Digital博士論文
市原, 英行
Available onlineOther Libraries in Japan

組合せテスト生成可能な順序回路の新しいクラスの提案とそれに基づくテスト生成法・テスト容易化設計法について

組合せテスト生成可能な順序回路の新しいクラスの提案とそれに基づくテスト生成法・テスト容易化設計法について
Digital文書・図像類
岡, 伸也, OOI, Chia Yee, 市原, 英行, 井上, 智生, 藤原, 秀雄, OKA, Nobuya, ICHIHARA,Hideyuki, Hideyuki, INOUE, Tomoo, FUJIWARA, Hideo[広島市立大学]p.1-22
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