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散乱光と蛍光とを同時に、かつ、別々の断層図とする半導体微小欠陥の検出法

Paper図書

小川, 智哉, 学習院大学1998-1999<Y151-H10450011>

National Diet Library

Subject Heading光散乱トモグラフイー半導体微小欠陥評価法

疲労き裂伝播下限界の欠陥寸法依存性に及ぼす真空圧力の影響

Paper図書

中村孝, 北海道大学 [著][中村孝]2003-2004<Y151-H15560056>

National Diet Library

Subject Heading内部起点型破壊 / 表面起点型破壊 / 超高サイクル疲労 / 疲労限度 / 高真空 / 微小き裂 / フラクトグラフィ / 微小欠陥

フーリエ変換ラマン及び赤外分光器を用いた半導体ヘテロ界面の微小欠陥に関する研究

Paper図書

河東田, 隆, 東京大学1994-1995<Y151-H06452117>

National Diet Library

Subject Headingフーリエ変換ラマン分光フーリエ変換赤外分光半導体ヘテロ界面微小欠陥

チタン合金の高温疲労強度に及ぼすシヨツトピーニングの影響

Paper図書

加藤, 容三, 大同工業大学1993-1995<Y151-H05650100>

National Diet Library

Subject Headingチタン合金高温度疲労強度シヨツトピーニング残留応力表面粗さ微小欠陥

セラミツクスの破壊評価線図作成に関する研究

Paper図書

安藤, 柱, 横浜国立大学1989-1991<Y151-H01550068>

National Diet Library

Subject Headingセラミツクス破壊評価線図確率非線形破壊力学プロセスゾーン微小欠陥破壊じん性結晶粒径

サーモビジヨン顕微鏡による微小欠陥・損傷同定システムの開発

Paper図書

小倉, 敬二, 大阪大学1990-1992<Y151-H02555019>

National Diet Library

Subject Heading非破壊検査サーモビジヨン顕微鏡赤外線熱画像微小欠陥複合材料積層フイルム赤外線透明材料固体接触冷却

シンクロトロン放射X線散慢散乱ラジオグラフイによるシリコン微小欠陥の検出

Paper図書

近浦, 吉則, 九州工業大学1987-1988<Y151-S62580041>

National Diet Library

Subject HeadingX線散乱ラジオグラフイシリコン微小欠陥 X線トポグラフイ薄いシリコン平面波トポグラフイ

セラミツクスの超高温引圧熱疲労試験装置の試作及び強度評価法の開発に関する研究

Paper図書

大谷, 隆一, 京都大学1987-1988<Y151-S62850021>

National Diet Library

Subject Headingセラミツクス超高温引圧疲労熱疲労試験装置高温強度評価法微小欠陥微小き裂伝ぱ信頼性評価

微小欠陥を含む部材の応力腐食割れおよび破壊靱性に関する研究

Paper図書

広瀬, 幸雄, 金沢大学1986-1987<Y151-S61550052>

National Diet Library

Subject Heading微小欠陥交流電位差法微小疲労亀裂切欠き底応力腐食割れ破壊靱...

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