Jump to main content

yr 〜
yr

Search results 4

ディープサブミクロンCMOS論理回路内断線故障の電気的検査法に関する研究

ディープサブミクロンCMOS論理回路内断線故障の電気的検査法に関する研究
Paper図書
橋爪正樹, 徳島大学 [著][橋爪正樹]2003-2005<Y151-H15500041>
National Diet Library
  • Subject Heading電気的検査 / CMOS論理回路 / 断線故障 / リード浮き / 電流テスト / IDDQテスト

CMOS論理回路の電源電流測定による断線故障検出法に関する研究

CMOS論理回路の電源電流測定による断線故障検出法に関する研究
Paper図書
橋爪, 正樹, 徳島大学2001-2002<Y151-H13680418>
National Diet Library
  • Subject Headingテスト 論理回路 CMOS 電源電流 断線故障 ICピン浮き故障

超LSI信頼性確保を目的とした微細金属薄膜配線の高密度電子流による断線故障予測法

超LSI信頼性確保を目的とした微細金属薄膜配線の高密度電子流による断線故障予測法
Paper図書
笹川和彦, 弘前大学 [著][笹川和彦]2003-2004<Y151-H15560058>
National Diet Library
  • Subject Heading電子パッケージ / エレクトロマイグレーション / 金属薄膜配線 / 断線故障 / バンブー配線 / 保護膜 / 数直シミュレーション /...

最適汎化ニユーラルネツトワークの構成法に関する研究

最適汎化ニユーラルネツトワークの構成法に関する研究
Paper図書
小川, 英光, 東京工業大学1994-1995<Y151-H06452399>
National Diet Library
  • Subject Heading学習 汎化 最適汎化ニユーラルネツトワーク 断線故障 最適結合荷重 最適中間素子関数 追加学習 能動学習

Reached to the end of result.

RSS