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検索結果 132 件

低温ポリシリコン薄膜トランジスタの高性能化・高信頼性化とその液晶表示装置への応用に関する研究

低温ポリシリコン薄膜トランジスタの高性能化・高信頼性化とその液晶表示装置への応用に関する研究
紙博士論文
古田守 [著][古田守]2003<UT51-2003-M298>
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低温ポリシリコン薄膜トランジスタの高性能化・高信頼性化とその液晶表示装置への応用に関する研究

低温ポリシリコン薄膜トランジスタの高性能化・高信頼性化とその液晶表示装置への応用に関する研究
デジタル博士論文
古田, 守奈良先端科学技術大学院大学2003-03-24
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低温形成AgxO/InGaZnOx界面におけるSchottky特性の起源とそのフレキシブルデバイス応用

低温形成AgxO/InGaZnOx界面におけるSchottky特性の起源とそのフレキシブルデバイス応用
デジタル博士論文障害者向け資料あり
曲, 勇作高知工科大学2020-03
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非晶質 In–Ga–Zn–Oxヘテロ接合チャネル薄膜トランジスタのキャリア輸送特性および信頼性

非晶質 In–Ga–Zn–Oxヘテロ接合チャネル薄膜トランジスタのキャリア輸送特性および信頼性
デジタル博士論文障害者向け資料あり
佐々木, 大地高知工科大学2020-03
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組合長日記 続

組合長日記 続
紙デジタル図書
東岡富一 著, 古田守 編[東岡富一][1990]<DM341-E36>
国立国会図書館

組合長日記

組合長日記
紙デジタル図書
東岡富一 著, 古田守 編[東岡富一][1988]<DM341-E36>
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InGaZnO 薄膜トランジスタの特性・信頼性制御とフレキシブルデバイス応用

InGaZnO 薄膜トランジスタの特性・信頼性制御とフレキシブルデバイス応用
デジタル博士論文障害者向け資料あり
戸田, 達也高知工科大学2016-03
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A study of degradation mechanism of In-Ga-Zn-O thin-film transistor under negative bias-illumination stress and positive bias stress for highly reliable display devices.

A study of degradation mechanism of In-Ga-Zn-O thin-film transistor under negative bias-illumination stress and positive bias stress for highly reliable display devices.
デジタル博士論文障害者向け資料あり
MAI, Phi Hung高知工科大学2015-09
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Study on density of states in In-X-Zn-O (X=Sn, Ga) semiconductors and defect passivation methods for highly reliable thin-film transistors

Study on density of states in In-X-Zn-O (X=Sn, Ga) semiconductors and defect passivation methods for highly reliable thin-film transistors
デジタル博士論文障害者向け資料あり
JIANG, Jingxin高知工科大学2015-03
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  • 寄与者古田　守

磁場配向法による希土類系高温超伝導体の三軸結晶配向に関する研究

磁場配向法による希土類系高温超伝導体の三軸結晶配向に関する研究
デジタル博士論文障害者向け資料あり
山木, 桃子高知工科大学2014-03
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電子情報通信学会技術研究報告 : 信学技報

電子情報通信学会技術研究報告 : 信学技報
紙雑誌
電子情報通信学会1987-2020<Z16-940>
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映像情報メディア学会技術報告

映像情報メディア学会技術報告
紙雑誌
映像情報メディア学会1997-2023<Z16-1010>
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秋田県におけるサルコイドージスの研究 453 (秋田医報)

秋田県におけるサルコイドージスの研究 453 (秋田医報)
デジタル記事
古田　守昭和47年12月p.7ページ
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  • 著者標目古田　守

InGaZnO 薄膜トランジスタの特性・信頼性制御とフレキシブルデバイス応用

InGaZnO 薄膜トランジスタの特性・信頼性制御とフレキシブルデバイス応用
デジタル博士論文
戸田, 達也高知工科大学2016-03
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A study of degradation mechanism of In-Ga-Zn-O thin-film transistor under negative bias-illumination stress and positive bias stress for highly reliable display devices.

A study of degradation mechanism of In-Ga-Zn-O thin-film transistor under negative bias-illumination stress and positive bias stress for highly reliable display devices.
デジタル博士論文
MAI, Phi Hung高知工科大学2015-09
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Cu(In,Ga)Se2系薄膜及びZnO系酸化物薄膜における欠陥の光学的評価とその太陽電池ならびに薄膜トランジスタ応用に関する研究

Cu(In,Ga)Se2系薄膜及びZnO系酸化物薄膜における欠陥の光学的評価とその太陽電池ならびに薄膜トランジスタ応用に関する研究
デジタル博士論文
島川, 伸一2015-05-29
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Study on density of states in In-X-Zn-O (X=Sn, Ga) semiconductors and defect passivation methods for highly reliable thin-film transistors

Study on density of states in In-X-Zn-O (X=Sn, Ga) semiconductors and defect passivation methods for highly reliable thin-film transistors
デジタル博士論文
JIANG, Jingxin高知工科大学2015-03
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  • 寄与者古田　守

磁場配向法による希土類系高温超伝導体の三軸結晶配向に関する研究

磁場配向法による希土類系高温超伝導体の三軸結晶配向に関する研究
デジタル博士論文
山木, 桃子高知工科大学2014-03
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マウスの実験的結核症に対する各種抗生物質及び合成物質の抗結核作用

マウスの実験的結核症に対する各種抗生物質及び合成物質の抗結核作用
紙博士論文
Mamoru Furuta [著][Mamoru Furuta]<UT51-医36-2514>
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電気学会研究会資料 EFM

電気学会研究会資料 EFM
紙雑誌
電気学会電子材料研究会 [編]電気学会[19--]-<Z43-226>
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