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Terrestrial radiation effects in ULSI devices and electronic systems
Terrestrial radiation effects in ULSI devices and electronic systems
紙
図書
Eishi H. Ibe.
John Wiley & Sons Singapore Pte. Ltd.
2015.
<ND386-B34>
国立国会図書館
著者標目
Ibe, Eishi
. [伊部英史]
Terrestrial neutron-induced soft errors in advanced memory devices
Terrestrial neutron-induced soft errors in advanced memory devices
紙
図書
Takashi Nakamura ...[et al.]
World Scientific
c2008
全国の図書館
著者標目
Nakamura, Takashi Baba, Mamoru
Ibe, Eishi
Yahagi, Yasuo Kameyama, Hidea...
Terrestrial radiation effects in ULSI devices and electronic systems
Terrestrial radiation effects in ULSI devices and electronic systems
紙
図書
Eishi H. Ibe
Wiley
2015
全国の図書館
著者標目
Ibe, Eishi
H.
Dependability in electronic systems : mitigation of hardware failures, soft errors, and electro-magnetic disturbances
Dependability in electronic systems : mitigation of hardware failures, soft errors, and electro-magnetic disturbances
紙
図書
Nobuyasu Kanekawa ... [et al.]
Springer
c2011
全国の図書館
著者標目
Kanekawa, Nobuyasu
Ibe, Eishi
H. Suga, Takashi Uematsu, Yut...
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