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検索結果 5 件

Raw data files for Fig. 11 Auger depth profiles in "Auger Depth Profiling Analysis of HfO2/Si Specimen Using an Ultra Low Angle Incidence Ion Beam"

Raw data files for Fig. 11 Auger depth profiles in "Auger Depth Profiling Analysis of HfO2/Si Specimen Using an Ultra Low Angle Incidence Ion Beam"
デジタル文書・図像類
OGIWARA, Toshiya, NAGATA, Takahiro, YOSHIKAWA, Hideki2019-03-07
インターネットで読める全国の図書館
  • 著者標目OGIWARA, Toshiya NAGATA, Takahiro YOSHIKAWA, H...

Raw data files for Fig. 6 Auger depth profiles in "Auger Depth Profiling Analysis of HfO2/Si Specimen Using an Ultra Low Angle Incidence Ion Beam"

Raw data files for Fig. 6 Auger depth profiles in "Auger Depth Profiling Analysis of HfO2/Si Specimen Using an Ultra Low Angle Incidence Ion Beam"
デジタル文書・図像類
OGIWARA, Toshiya, NAGATA, Takahiro, YOSHIKAWA, Hideki2019-03-07
インターネットで読める全国の図書館
  • 著者標目OGIWARA, Toshiya NAGATA, Takahiro YOSHIKAWA, H...

Raw data files for Fig. 9 Auger depth profiles in "Auger Depth Profiling Analysis of HfO2/Si Specimen Using an Ultra Low Angle Incidence Ion Beam"

Raw data files for Fig. 9 Auger depth profiles in "Auger Depth Profiling Analysis of HfO2/Si Specimen Using an Ultra Low Angle Incidence Ion Beam"
デジタル文書・図像類
OGIWARA, Toshiya, NAGATA, Takahiro, YOSHIKAWA, Hideki2019-03-07
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  • 著者標目OGIWARA, Toshiya NAGATA, Takahiro YOSHIKAWA, H...

Raw data files for Fig. 5 Auger depth profiles in "Auger Depth Profiling Analysis of HfO2/Si Specimen Using an Ultra Low Angle Incidence Ion Beam"

Raw data files for Fig. 5 Auger depth profiles in "Auger Depth Profiling Analysis of HfO2/Si Specimen Using an Ultra Low Angle Incidence Ion Beam"
デジタル文書・図像類
OGIWARA, Toshiya, NAGATA, Takahiro, YOSHIKAWA, Hideki2019-03-07
インターネットで読める全国の図書館
  • 著者標目OGIWARA, Toshiya NAGATA, Takahiro YOSHIKAWA, H...

多層薄膜試料のオージェ深さ方向分析の研究

多層薄膜試料のオージェ深さ方向分析の研究
紙デジタル博士論文障害者向け資料あり
荻原俊也 [著]<UT51-99-M46>
インターネットで読める国立国会図書館

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