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検索結果 17 件

組み合わせ論理回路のソフトエラー評価を可能とするLSIテスト技術

組み合わせ論理回路のソフトエラー評価を可能とするLSIテスト技術
紙図書
小林大輔, 宇宙航空研究開発機構 [著][小林大輔]2006-2007<Y151-H18560359>
国立国会図書館
  • 件名ソフトエラー / シングルイベント効果 / スキャン設計 / テスト容易化設計 / 放射線 / VLSI / 論理回路

システムオンチップのテストアーキテクチャとテスト容易化設計に関する基礎研究

システムオンチップのテストアーキテクチャとテスト容易化設計に関する基礎研究
紙図書
藤原秀雄, 奈良先端科学技術大学院大学 [著][藤原秀雄]2003-2006<Y151-H15300018>
国立国会図書館
  • 件名システムオンチップ / テスト容易化設計 / 連続可検査 / 連続透明 / テストアーキテクチャ /...

上流からのVLSIテスト容易化合成に関する基礎研究

上流からのVLSIテスト容易化合成に関する基礎研究
紙図書
藤原, 秀雄, 奈良先端科学技術大学院大学1997-2000<Y151-H09480054>
国立国会図書館
  • 件名テスト容易化設計 テスト容易化合物 高位合成 VLSIテスト データフローグ...

可観測な環境でのテスト設計と診断容易化手法に関する研究

可観測な環境でのテスト設計と診断容易化手法に関する研究
紙図書
樹下, 行三, 大阪大学1990-1992<Y151-H02452165>
国立国会図書館
  • 件名テスト容易化設計 故障診断 電子ビームテスト 全可観測テスト LSIテスト

セルフチエツキング機能に基づくVLSIテスト方式に関する研究

セルフチエツキング機能に基づくVLSIテスト方式に関する研究
紙図書
南谷, 崇, 東京工業大学1988-1989<Y151-S63550270>
国立国会図書館
  • 件名セルフチエツキング VLSIテスト 論理回路 テスト容易化設計

三次元集積化システムオンチップのテスト手法に関する研究 : 平成21年度-23年度研究成果報告書

三次元集積化システムオンチップのテスト手法に関する研究 : 平成21年度-23年度研究成果報告書
デジタル文書・図像類
米田, 友和奈良先端科学技術大学院大学2012
インターネットで読める全国の図書館
  • 件名システムオンチップ 三次元集積化 テスト容易化設計 テストアーキテクチャ

三次元集積化システムオンチップのテスト手法に関する研究 : 平成23年度実績報告書

三次元集積化システムオンチップのテスト手法に関する研究 : 平成23年度実績報告書
デジタル文書・図像類
米田, 友和奈良先端科学技術大学院大学2012
インターネットで読める全国の図書館
  • 件名システムオンチップ 三次元集積化 テスト容易化設計 テストアーキテクチャ

三次元集積化システムオンチップのテスト手法に関する研究 : 平成22年度実績報告書

三次元集積化システムオンチップのテスト手法に関する研究 : 平成22年度実績報告書
デジタル文書・図像類
米田, 友和奈良先端科学技術大学院大学2011
インターネットで読める全国の図書館
  • 件名システムオンチップ 三次元集積化 テスト容易化設計 テストアーキテクチャ

3次元集積化システムオンチップのテスト手法に関する研究

3次元集積化システムオンチップのテスト手法に関する研究
デジタル文書・図像類
米田, 友和奈良先端科学技術大学院大学2010
インターネットで読める全国の図書館
  • 件名システムオンチップ 三次元集積化 テスト容易化設計 テストアーキテクチャ

構造テストに高故障検出効率を保証するプロセッサの命令レベル自己テスト法 : 平成19年度実績報告書

構造テストに高故障検出効率を保証するプロセッサの命令レベル自己テスト法 : 平成19年度実績報告書
デジタル文書・図像類
井上, 美智子奈良先端科学技術大学院大学2008
インターネットで読める全国の図書館
  • 件名テスト生成 テスト容易化設計 プロセッサ 遅延故障 命令レベル自己テスト VLSI

時間展開モデルに基づくレジスタ転送レベル回路の非スキャンテスト容易化設計法に関する研究

時間展開モデルに基づくレジスタ転送レベル回路の非スキャンテスト容易化設計法に関する研究
デジタル博士論文
岩田, 浩幸奈良先端科学技術大学院大学2007-03-23
全国の図書館
  • 件名テスト容易化設計 RTL回路 時間展開モデル 部分強可検査 完全故障検出効率

大規模・高性能VLSIのレジスタ転送レベルにおけるテスト容易化設計に関する研究 : 平成19年度実績報告書

大規模・高性能VLSIのレジスタ転送レベルにおけるテスト容易化設計に関する研究 : 平成19年度実績報告書
デジタル文書・図像類
大竹, 哲史奈良先端科学技術大学院大学2008
インターネットで読める全国の図書館
  • 件名VLSIテスト テスト容易化設計 縮退故障 遅延故障 レジスタ転送レベル データパス 不均一...

マルチクロックドメイン・システムオンチップのテスト容易化設計に関する研究 : 平成19年度実績報告書

マルチクロックドメイン・システムオンチップのテスト容易化設計に関する研究 : 平成19年度実績報告書
デジタル文書・図像類
米田, 友和奈良先端科学技術大学院大学2008
インターネットで読める全国の図書館
  • 件名テスト容易化設計 テストスケジューリング システムオンチップ ネットワークオ...

システムオンチップのテストアーキテクチャとテスト容易化設計に関する基礎研究 : 平成15年度-18年度研究成果報告書

システムオンチップのテストアーキテクチャとテスト容易化設計に関する基礎研究 : 平成15年度-18年度研究成果報告書
デジタル文書・図像類
藤原, 秀雄奈良先端科学技術大学院大学2007-03
インターネットで読める全国の図書館
  • 件名システムオンチップ テスト容易化設計 連続可検査 連続透明 テストアーキテクチャ テストアクセス...

階層テスト生成に基づくレジスタ転送レベル回路の非スキャンテスト容易化設計法に関する研究

階層テスト生成に基づくレジスタ転送レベル回路の非スキャンテスト容易化設計法に関する研究
デジタル博士論文
永井, 慎太郎奈良先端科学技術大学院大学2003-03-24
全国の図書館
  • 件名レジスタ転送レベル テスト容易化設計 固定制御可検査性 階層テスト生成 データフローグラフ

階層BISTのためのテスト容易化設計に関する研究

階層BISTのためのテスト容易化設計に関する研究
デジタル博士論文
山口, 賢一奈良先端科学技術大学院大学2003-03-24
全国の図書館
  • 件名単一制御並行検査性 時分割単一制御並行可検査性 テスト容易化設計 階層BIST レジスタ転送レベル

データパスの強可検査性に基づくテスト容易化設計ならびにテスト容易化高位合成に関する研究

データパスの強可検査性に基づくテスト容易化設計ならびにテスト容易化高位合成に関する研究
デジタル博士論文
和田, 弘樹奈良先端科学技術大学院大学2001-03-23
インターネットで読める全国の図書館
  • 件名強可検査性 テスト容易化設計 テスト容易化高位合成 レジスタ転送レベルデータパス

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