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Scanning probe microscopy -- frontiers in nanobio science : April 5-9, 2010 : San Francisco, California, USA. : Apr 2010, San Francisco, CA. (Materials Research Society Symposia Proceedings ; 1261)
Scanning probe microscopy -- frontiers in nanobio science : April 5-9, 2010 : San Francisco, California, USA. : Apr 2010, San Francisco, CA. (Materials Research Society Symposia Proceedings ; 1261)
紙
図書
Materials Research Society
c2010.
<M17-11-1356>
国立国会図書館
Nanoscale phenomena in functional materials by scanning probe microscopy : November 26-30, 2007 : Boston, Massachusetts, USA. : Nov 2007, Boston, MA. (Materials Research Society Symposia Proceedings ; 1025)
Nanoscale phenomena in functional materials by scanning probe microscopy : November 26-30, 2007 : Boston, Massachusetts, USA. : Nov 2007, Boston, MA. (Materials Research Society Symposia Proceedings ; 1025)
紙
図書
Materials Research Society
c2008.
<M17-09-1995>
国立国会図書館
Applications of scanned probe microscopy to polymers. : 214th National American Chemical Society (ACS) meeting : Mar 2003, New Orleans, LA. (ACS Symposium Series ; 897)
Applications of scanned probe microscopy to polymers. : 214th National American Chemical Society (ACS) meeting : Mar 2003, New Orleans, LA. (ACS Symposium Series ; 897)
紙
図書
American Chemical Society
c2005.
<M17-05-1304>
国立国会図書館
Scanning tunneling microscopy/spectroscopy and related techniques : 12th international conference : STM'03 : Eindhoven, The Netherlands 21-25 July 2003. : Jul 2003, Eindhoven, the Netherlands. (AIP Conference Proceedings ; 696)
Scanning tunneling microscopy/spectroscopy and related techniques : 12th international conference : STM'03 : Eindhoven, The Netherlands 21-25 July 2003. : Jul 2003, Eindhoven, the Netherlands. (AIP Conference Proceedings ; 696)
紙
図書
American Institute of Physics
c2003.
<M17-04-1857>
国立国会図書館
件名
...-- Congresses.
Scanning probe microscopy. -- Congresses.
Nanotechnology -- Congresses.
Spatially resolved characterization of local phenomena in materials and nanostructures : symposium held December 2-6, 2002, Boston, Massachusetts, U.S.A. : symposium G, "spatially resolved characterization of local phenomena in materials and devices" : 2002 MRS fall meeting : Dec 2002, Boston, MA. (Materials Research Society Symposia Proceedings ; 738)
Spatially resolved characterization of local phenomena in materials and nanostructures : symposium held December 2-6, 2002, Boston, Massachusetts, U.S.A. : symposium G, "spatially resolved characterization of local phenomena in materials and devices" : 2002 MRS fall meeting : Dec 2002, Boston, MA. (Materials Research Society Symposia Proceedings ; 738)
紙
図書
Materials Research Society
c2003.
<M17-03-5205>
国立国会図書館
Scanning probe techniques for materials characterization at nanometer scale : proceedings of the international symposium. : ------. (PV ; 2000-35)
Scanning probe techniques for materials characterization at nanometer scale : proceedings of the international symposium. : ------. (PV ; 2000-35)
紙
図書
Electrochemical Society
c2001.
<M17-03-4976>
国立国会図書館
全国の図書館
Applications of scanned probe microscopy to polymers
Applications of scanned probe microscopy to polymers
紙
図書
James D. Batteas, Chris A. Michaels, Gilbert C. Walker, editor[s]
American Chemical Society
c2005
全国の図書館
Proceedings of scanning and force microscopies for biomedical applications : 24-25 January 1999, San Jose, California
Proceedings of scanning and force microscopies for biomedical applications : 24-25 January 1999, San Jose, California
紙
図書
Eiichi Tamiya, Shuming Nie, chairs/editors ; sponsored by SPIE--the International Society for Optical Engineering, IBOS--International Biomedical Optics Society
SPIE
c1999
全国の図書館
Scanning probe microscopy of polymers
Scanning probe microscopy of polymers
紙
図書
Buddy D. Ratner, editor, Vladimir V. Tsukruk, editor
American Chemical Society
c1998
全国の図書館
Near field optics
Near field optics
紙
図書
edited by Dieter W. Pohl and Daniel Courjon
Kluwer Academic
c1993
全国の図書館
Scanning probe microscopies II : 18-19 January 1993, Los Angeles, California
Scanning probe microscopies II : 18-19 January 1993, Los Angeles, California
紙
図書
Clayton C. Williams, chair/editor ; sponsored and published by SPIE--the International Society for Optical Engineering
SPIE
c1993
全国の図書館
Forces in scanning probe methods
Forces in scanning probe methods
紙
図書
edited by H.-J. Güntherodt, D. Anselmetti and E. Meyer
Kluwer Academic
c1995
全国の図書館
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