散乱線強度比を用いた蛍光X線分析による大気粉じん中の軽元素の補正定量法

• 資料種別: 記事
• タイトル: 散乱線強度比を用いた蛍光X線分析による大気粉じん中の軽元素の補正定量法
• 著者・編者: 田中,茂; 岡森,克高; 橋本,芳一; 佐藤,宗一
• 出版事項: 日本 : 日本分析化学会
• 出版年月日等: 1990-07-05
• 出版年（W3CDTF）: 1990-07-05
• 並列タイトル等: A correction method for the determination of low atomic number elements in aerosols by XRF analysis by using an intensity ratio between Compton and Thomson scattering
• タイトル（掲載誌）: 分析化学
• 巻号年月日等（掲載誌）: 39(7)
• 掲載巻: 39(7)
• 掲載ページ: T107-T112
• 本文の言語コード: JPN
• 著者別名: TANAKA,Shigeru; OKAMORI,Katsutaka; HASHIMOTO,Yoshikazu; SATO,Souichi
• 件名標目: XRF analysis; low atomic number elements in aerosols; correction of X-ray absorption effect; an intensity ratio between Compton and Thomson scattering
• 一般注記: 著者所属: 著者所属: 慶応義塾大学理工学部応用化学科; 著者所属: 動力炉・核燃料開発事業団東海事業所; Affiliation: Affiliation: Department of Applied Chemistry, Fuculty of Science and Technology, Keio University; Affiliation: Power Reactor and Nuclear Fuel Development Corporation Tokai Works
• 国立国会図書館永続的識別子: info:ndljp/pid/10892419; https://dl.ndl.go.jp/pid/10892419
• コレクション（共通）: 障害者向け資料
• コレクション（障害者向け資料：レベル1）: テキストデータ
• コレクション（個別）: 国立国会図書館デジタルコレクション > 電子書籍・電子雑誌 > 学術機関 > 学協会; https://dl.ndl.go.jp/collections/B00043
• 収集根拠: NII-ELS
• 公開開始日（W3CDTF）: 2017-08-30
• 受理日（W3CDTF）: 2017-08-22
• 保存日（W3CDTF）: 2017-08-22
• 記録形式（IMT）: application/pdf
• オンライン閲覧公開範囲: インターネット公開
• 遠隔複写可否（NDL）: 不可
• 掲載誌（国立国会図書館永続的識別子）: info:ndljp/pid/10399431; https://dl.ndl.go.jp/pid/10399431
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館デジタルコレクション; https://dl.ndl.go.jp

• 要約等: 大気粉じん中の軽元素(原子番号21以下)をXRF法で定量分析する際に, 問題となるマトリックスの影響を補正する方法を検討した.補正方法は, 大気粉じん試料の散乱線強度比(Compton/Thomson)を測定して, 平均原子番号を求めることにより, 質量吸収係数を算出し, その質量吸収係数から, 測...