散乱線強度比を用いた蛍光X線分析による大気粉じん中の軽元素の補正定量法

• Material Type: 記事
• Title: 散乱線強度比を用いた蛍光X線分析による大気粉じん中の軽元素の補正定量法
• Author/Editor: 田中,茂; 岡森,克高; 橋本,芳一; 佐藤,宗一
• Publication, Distribution, etc.: 日本 : 日本分析化学会
• Publication Date: 1990-07-05
• Publication Date (W3CDTF): 1990-07-05
• Alternative Title: A correction method for the determination of low atomic number elements in aerosols by XRF analysis by using an intensity ratio between Compton and Thomson scattering
• Periodical title: 分析化学
• No. or year of volume/issue: 39(7)
• Volume: 39(7)
• Pages: T107-T112
• Text Language Code: JPN
• Alias of Author: TANAKA,Shigeru; OKAMORI,Katsutaka; HASHIMOTO,Yoshikazu; SATO,Souichi
• Subject Heading: XRF analysis; low atomic number elements in aerosols; correction of X-ray absorption effect; an intensity ratio between Compton and Thomson scattering
• Note (General): 著者所属: 著者所属: 慶応義塾大学理工学部応用化学科; 著者所属: 動力炉・核燃料開発事業団東海事業所; Affiliation: Affiliation: Department of Applied Chemistry, Fuculty of Science and Technology, Keio University; Affiliation: Power Reactor and Nuclear Fuel Development Corporation Tokai Works
• Persistent ID (NDL): info:ndljp/pid/10892419; https://dl.ndl.go.jp/pid/10892419
• Collection: 障害者向け資料
• Collection (Materials For Handicapped People:1): テキストデータ
• Collection (particular): 国立国会図書館デジタルコレクション > 電子書籍・電子雑誌 > 学術機関 > 学協会; https://dl.ndl.go.jp/collections/B00043
• Acquisition Basis: NII-ELS
• Available (W3CDTF): 2017-08-30
• Date Accepted (W3CDTF): 2017-08-22
• Date Captured (W3CDTF): 2017-08-22
• Format (IMT): application/pdf
• Access Restrictions: インターネット公開
• Availability of remote photoduplication service: 不可
• Periodical Title (Persistent ID (NDL)): info:ndljp/pid/10399431; https://dl.ndl.go.jp/pid/10399431
• Data Provider (Database): 国立国会図書館 : 国立国会図書館デジタルコレクション; https://dl.ndl.go.jp

• Summary, etc.: 大気粉じん中の軽元素(原子番号21以下)をXRF法で定量分析する際に, 問題となるマトリックスの影響を補正する方法を検討した.補正方法は, 大気粉じん試料の散乱線強度比(Compton/Thomson)を測定して, 平均原子番号を求めることにより, 質量吸収係数を算出し, その質量吸収係数から, 測...