イオンビームによる分析(<特集>表面・界面・薄膜と分析化学)

• 資料種別: 記事
• タイトル: イオンビームによる分析(<特集>表面・界面・薄膜と分析化学)
• 著者・編者: 藤本,文範
• 出版事項: 日本 : 日本分析化学会
• 出版年月日等: 1991-11-05
• 出版年（W3CDTF）: 1991-11-05
• 並列タイトル等: Ion beam analysis(<Special Articles>Analytical Chemistry in Surface, Interface and Thin Film)
• タイトル（掲載誌）: 分析化学
• 巻号年月日等（掲載誌）: 40(11)
• 掲載巻: 40(11)
• 掲載ページ: 577-597
• 本文の言語コード: JPN
• 著者別名: FUJIMOTO,Fuminori
• 一般注記: 著者所属: 岡山理科大学; Affiliation: Okayama University of Science : (Present address) Laboratoire de Solides Irradies, Ecole Polytechnique
• 国立国会図書館永続的識別子: info:ndljp/pid/10892731; https://dl.ndl.go.jp/pid/10892731
• コレクション（共通）: 障害者向け資料
• コレクション（障害者向け資料：レベル1）: テキストデータ
• コレクション（個別）: 国立国会図書館デジタルコレクション > 電子書籍・電子雑誌 > 学術機関 > 学協会; https://dl.ndl.go.jp/collections/B00043
• 収集根拠: NII-ELS
• 公開開始日（W3CDTF）: 2017-08-30
• 受理日（W3CDTF）: 2017-08-22
• 保存日（W3CDTF）: 2017-08-22
• 記録形式（IMT）: application/pdf
• オンライン閲覧公開範囲: インターネット公開
• 遠隔複写可否（NDL）: 不可
• 掲載誌（国立国会図書館永続的識別子）: info:ndljp/pid/10399447; https://dl.ndl.go.jp/pid/10399447
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館デジタルコレクション; https://dl.ndl.go.jp

• 要約等: イオンビームを用いた, ラザフォード後方散乱法, チャネリング法, イオン散乱法, 反跳法, 核反応法, PIXE及びSIMS分析法の原理と応用について概説した.これらの方法は元素分析, 表面と界面の構造, 又, 不純物原子の分布とその格子中の位置, 結晶評価についての研究に非常に有効な方法であるこ...