イオンビームによる分析(<特集>表面・界面・薄膜と分析化学)

• Material Type: 記事
• Title: イオンビームによる分析(<特集>表面・界面・薄膜と分析化学)
• Author/Editor: 藤本,文範
• Publication, Distribution, etc.: 日本 : 日本分析化学会
• Publication Date: 1991-11-05
• Publication Date (W3CDTF): 1991-11-05
• Alternative Title: Ion beam analysis(<Special Articles>Analytical Chemistry in Surface, Interface and Thin Film)
• Periodical title: 分析化学
• No. or year of volume/issue: 40(11)
• Volume: 40(11)
• Pages: 577-597
• Text Language Code: JPN
• Alias of Author: FUJIMOTO,Fuminori
• Note (General): 著者所属: 岡山理科大学; Affiliation: Okayama University of Science : (Present address) Laboratoire de Solides Irradies, Ecole Polytechnique
• Persistent ID (NDL): info:ndljp/pid/10892731; https://dl.ndl.go.jp/pid/10892731
• Collection: 障害者向け資料
• Collection (Materials For Handicapped People:1): テキストデータ
• Collection (particular): 国立国会図書館デジタルコレクション > 電子書籍・電子雑誌 > 学術機関 > 学協会; https://dl.ndl.go.jp/collections/B00043
• Acquisition Basis: NII-ELS
• Available (W3CDTF): 2017-08-30
• Date Accepted (W3CDTF): 2017-08-22
• Date Captured (W3CDTF): 2017-08-22
• Format (IMT): application/pdf
• Access Restrictions: インターネット公開
• Availability of remote photoduplication service: 不可
• Periodical Title (Persistent ID (NDL)): info:ndljp/pid/10399447; https://dl.ndl.go.jp/pid/10399447
• Data Provider (Database): 国立国会図書館 : 国立国会図書館デジタルコレクション; https://dl.ndl.go.jp

• Summary, etc.: イオンビームを用いた, ラザフォード後方散乱法, チャネリング法, イオン散乱法, 反跳法, 核反応法, PIXE及びSIMS分析法の原理と応用について概説した.これらの方法は元素分析, 表面と界面の構造, 又, 不純物原子の分布とその格子中の位置, 結晶評価についての研究に非常に有効な方法であるこ...