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電子書籍・電子雑誌分析化学
巻号42 3
X線光電子分光法にお...

X線光電子分光法におけるC1sスペクトル波形解析によるダイヤモンド薄膜の評価

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X線光電子分光法におけるC1sスペクトル波形解析によるダイヤモンド薄膜の評価

国立国会図書館永続的識別子
info:ndljp/pid/10893043
資料種別
記事
著者
飯島,善時ほか
出版者
日本分析化学会
出版年
1993-03-05
資料形態
デジタル
掲載誌名
分析化学 42(3)
掲載ページ
p.133-140
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資料に関する注記

一般注記:

著者所属: 日本電子(株)電子光学機器技術本部応用研究センター著者所属: 山梨大学工学部化学生物工学科Affiliation: Application and Research Center Electron Optics Division, JEOL Ltd....

資料詳細

要約等:

X線光電子分光法(XPS)を用いて, C1sスペクトルの形状解析より, ダイヤモンド薄膜の解析評価を試みた.その結果C1sスペクトルの半値幅, ピークの対称性の解析より, XPSがダイヤモンド薄膜の評価, 及び膜の構造解析に有効な分析法であることを明らかにした.Characterization of...

書誌情報

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デジタル

資料種別
記事
著者・編者
飯島,善時
平岡,賢三
出版年月日等
1993-03-05
出版年(W3CDTF)
1993-03-05
並列タイトル等
Diamond film characterization by analyzing C 1s peak shapes with X-ray photoelectron spectroscopy
タイトル(掲載誌)
分析化学
巻号年月日等(掲載誌)
42(3)
掲載巻
42(3)