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電子書籍・電子雑誌分析化学
Volume number42 3
X線光電子分光法にお...

X線光電子分光法におけるC1sスペクトル波形解析によるダイヤモンド薄膜の評価

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X線光電子分光法におけるC1sスペクトル波形解析によるダイヤモンド薄膜の評価

Persistent ID (NDL)
info:ndljp/pid/10893043
Material type
記事
Author
飯島,善時ほか
Publisher
日本分析化学会
Publication date
1993-03-05
Material Format
Digital
Journal name
分析化学 42(3)
Publication Page
p.133-140
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Notes on use

Note (General):

著者所属: 日本電子(株)電子光学機器技術本部応用研究センター著者所属: 山梨大学工学部化学生物工学科Affiliation: Application and Research Center Electron Optics Division, JEOL Ltd....

Detailed bibliographic record

Summary, etc.:

X線光電子分光法(XPS)を用いて, C1sスペクトルの形状解析より, ダイヤモンド薄膜の解析評価を試みた.その結果C1sスペクトルの半値幅, ピークの対称性の解析より, XPSがダイヤモンド薄膜の評価, 及び膜の構造解析に有効な分析法であることを明らかにした.Characterization of...

Bibliographic Record

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Digital

Material Type
記事
Author/Editor
飯島,善時
平岡,賢三
Publication, Distribution, etc.
Publication Date
1993-03-05
Publication Date (W3CDTF)
1993-03-05
Alternative Title
Diamond film characterization by analyzing C 1s peak shapes with X-ray photoelectron spectroscopy
Periodical title
分析化学
No. or year of volume/issue
42(3)
Volume
42(3)