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電子書籍・電子雑誌分析化学
巻号43 1
顕微フーリエ変換赤外...

顕微フーリエ変換赤外分光法における膜厚調整による干渉スペクトル除去法

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顕微フーリエ変換赤外分光法における膜厚調整による干渉スペクトル除去法

国立国会図書館永続的識別子
info:ndljp/pid/10893254
資料種別
記事
著者
宮川,雅恵
出版者
日本分析化学会
出版年
1994-01-05
資料形態
デジタル
掲載誌名
分析化学 43(1)
掲載ページ
p.57-60
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資料に関する注記

一般注記:

著者所属: 日立計測エンジニアリング(株)テクノリサーチセンタAffiliation: Techno Research Laboratory, Hitachi Instruments Engineering Co., Ltd.

資料詳細

要約等:

顕微FT-IR法により薄膜試料を測定する場合, 試料本来のスペクトルに干渉スペクトルが重畳し, 解析が困難となる問題がある.本報告では, 顕微反射法において発生する干渉スペクトルの発生要因の一つである試料の膜厚条件に着目し, 干渉スペクトルの重畳を除去する非破壊方法を検討した.シリコン基板上のポリス...

書誌情報

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デジタル

資料種別
記事
著者・編者
宮川,雅恵
出版年月日等
1994-01-05
出版年(W3CDTF)
1994-01-05
並列タイトル等
Method for removing interference spectra in FT-IR microspectroscopy
タイトル(掲載誌)
分析化学
巻号年月日等(掲載誌)
43(1)
掲載巻
43(1)