放射光走査型X線顕微鏡による微量元素の化学状態分析(関東支部創立40周年紀念)

• 資料種別: 記事
• タイトル: 放射光走査型X線顕微鏡による微量元素の化学状態分析(関東支部創立40周年紀念)
• 著者・編者: 早川,慎二郎
• 出版事項: 日本 : 日本分析化学会
• 出版年月日等: 1996-02-05
• 出版年（W3CDTF）: 1996-02-05
• 並列タイトル等: Trace element characterization using a synchrotron radiation X-ray microprobe(As a memory of 40 years anniversary of Kanto Branch)
• タイトル（掲載誌）: 分析化学
• 巻号年月日等（掲載誌）: 45(2)
• 掲載巻: 45(2)
• 掲載ページ: 125-134
• 本文の言語コード: JPN
• 著者別名: HAYAKAWA,Shinjiro
• 件名標目: synchorotron radiation; X-ray fluorescence analysis; microbeam; microprobe; Wolter mirror; trace element analysis; XAFS; intermediate thick sample; synthetic diamond
• 一般注記: 著者所属: 東京大学工学部応用化学科; Affiliation: Department of Applied Chemistry, Faculty of Engineering, University of Tokyo
• 国立国会図書館永続的識別子: info:ndljp/pid/10893764; https://dl.ndl.go.jp/pid/10893764
• コレクション（共通）: 障害者向け資料
• コレクション（障害者向け資料：レベル1）: テキストデータ
• コレクション（個別）: 国立国会図書館デジタルコレクション > 電子書籍・電子雑誌 > 学術機関 > 学協会; https://dl.ndl.go.jp/collections/B00043
• 収集根拠: NII-ELS
• 公開開始日（W3CDTF）: 2017-08-30
• 受理日（W3CDTF）: 2017-08-22
• 保存日（W3CDTF）: 2017-08-22
• 記録形式（IMT）: application/pdf
• オンライン閲覧公開範囲: インターネット公開
• 遠隔複写可否（NDL）: 不可
• 掲載誌（国立国会図書館永続的識別子）: info:ndljp/pid/10399498; https://dl.ndl.go.jp/pid/10399498
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館デジタルコレクション; https://dl.ndl.go.jp

• 要約等: 放射光X線の集光光学系を作製し, 微小部での蛍光X線測定が可能な走査型X線顕微鏡を開発した.この顕微鏡により極微量の元素について蛍光X線法による定性, 定量分析が可能であるだけでなく, X線吸収端微細構造(XAFS)スペクトルから局所での化学状態に関する情報を得ることができる.本論文では作製した顕微...