放射光走査型X線顕微鏡による微量元素の化学状態分析(関東支部創立40周年紀念)

• Material Type: 記事
• Title: 放射光走査型X線顕微鏡による微量元素の化学状態分析(関東支部創立40周年紀念)
• Author/Editor: 早川,慎二郎
• Publication, Distribution, etc.: 日本 : 日本分析化学会
• Publication Date: 1996-02-05
• Publication Date (W3CDTF): 1996-02-05
• Alternative Title: Trace element characterization using a synchrotron radiation X-ray microprobe(As a memory of 40 years anniversary of Kanto Branch)
• Periodical title: 分析化学
• No. or year of volume/issue: 45(2)
• Volume: 45(2)
• Pages: 125-134
• Text Language Code: JPN
• Alias of Author: HAYAKAWA,Shinjiro
• Subject Heading: synchorotron radiation; X-ray fluorescence analysis; microbeam; microprobe; Wolter mirror; trace element analysis; XAFS; intermediate thick sample; synthetic diamond
• Note (General): 著者所属: 東京大学工学部応用化学科; Affiliation: Department of Applied Chemistry, Faculty of Engineering, University of Tokyo
• Persistent ID (NDL): info:ndljp/pid/10893764; https://dl.ndl.go.jp/pid/10893764
• Collection: 障害者向け資料
• Collection (Materials For Handicapped People:1): テキストデータ
• Collection (particular): 国立国会図書館デジタルコレクション > 電子書籍・電子雑誌 > 学術機関 > 学協会; https://dl.ndl.go.jp/collections/B00043
• Acquisition Basis: NII-ELS
• Available (W3CDTF): 2017-08-30
• Date Accepted (W3CDTF): 2017-08-22
• Date Captured (W3CDTF): 2017-08-22
• Format (IMT): application/pdf
• Access Restrictions: インターネット公開
• Availability of remote photoduplication service: 不可
• Periodical Title (Persistent ID (NDL)): info:ndljp/pid/10399498; https://dl.ndl.go.jp/pid/10399498
• Data Provider (Database): 国立国会図書館 : 国立国会図書館デジタルコレクション; https://dl.ndl.go.jp

• Summary, etc.: 放射光X線の集光光学系を作製し, 微小部での蛍光X線測定が可能な走査型X線顕微鏡を開発した.この顕微鏡により極微量の元素について蛍光X線法による定性, 定量分析が可能であるだけでなく, X線吸収端微細構造(XAFS)スペクトルから局所での化学状態に関する情報を得ることができる.本論文では作製した顕微...