「蓄積電荷測定法」による有機・金属界面の電荷注入抵抗測定とトランジスタへの応用
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国立国会図書館デジタルコレクション
書誌情報
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- 資料種別
- 記事
- 著者・編者
- 角屋智史
- 出版事項
- 並列タイトル等
- Estimation of charge injection barriers at the organic/metal interface using ''accumulated charge measurement'' and application to transistors
- タイトル（掲載誌）
- 研究助成成果報告書
- 巻号年月日等（掲載誌）
- 2021年度
- 掲載巻
- 2021年度
- 本文の言語コード
- jpn
- 国立国会図書館永続的識別子
- info:ndljp/pid/14443828