Available with Digitized Contents Transmission Service
Find on the publisher's website
国立国会図書館デジタルコレクション
Available for viewing via the Digitized Contents Transmission Service for Individuals to official registered users of the NDL, who resides in Japan.
Search by Bookstore
Read this material in an accessible format.
Table of Contents
目次
p1
緒論
p1
第1章 電子デバイス用薄膜および単結晶基板の弾性定数評価に関する研究の現状と課題
p1
第2章 本研究の目的と本論文の構成
p13
第I編 電子デバイス用薄膜のヤング率測定法の開発
p15
Search by Bookstore
Read in Disability Resources
- プレーンテキスト
Registered users of Mina Search can download or stream this content.
Bibliographic Record
You can check the details of this material, its authority (keywords that refer to materials on the same subject, author's name, etc.), etc.
- Material Type
- 博士論文
- Title Transcription
- デンシ デバイスヨウ ハクマク オヨビ タンケッショウ キバン ノ ダンセイ テイスウ ヒョウカ ニ カンスル ケンキュウ
- Author/Editor
- 橋本清司 [著]
- Author Heading
- 橋本, 清司 ハシモト, キヨシ
- Degree grantor/type
- 立命館大学
- Date Granted
- 平成7年3月31日
- Date Granted (W3CDTF)
- 1995
- Dissertation Number
- 甲第67号
- Degree Type
- 博士 (工学)