薄膜の界面構造/組成および物性評価技術

• Material Type: 図書
• Title: 薄膜の界面構造/組成および物性評価技術
• Title Transcription: ハクマク ノ カイメン コウゾウ ソセイ オヨビ ブッセイ ヒョウカ ギジュツ
• Author/Editor: 応用物理学会薄膜・表面物理分科会 編
• Series Title: AP ; 982339. 薄膜・表面物理基礎講座 ; 第27回
• Author Heading: 応用物理学会 オウヨウ ブツリ ガッカイ ( 00281497 )Authorities
• Publication, Distribution, etc.: [東京] : 応用物理学会薄膜・表面物理分科会
• Publication Date: 1998.11
• Publication Date (W3CDTF): 1998
• Extent: 124p
• Size: 26cm
• Place of Publication (Country Code): JP
• Text Language Code: jpn
• Subject Heading: 薄膜--会議録 ハクマク カイギロク ( 00610990 )Authorities
• NDC 9th ed.: 549.8 : Electronic engineering
• NDLC: ND371
• Target Audience: 一般
• Holding library: 国立国会図書館
• Call No.: ND371-G118
• Data Provider (Database): 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• Bibliographic ID (NDL): 000002742465; http://id.ndl.go.jp/bib/000002742465
• National Bibliography No. (JPNO): 20005507
• Cataloging Rule: Nippon Cataloguing Rules 1987 Revised Edition
• Bibliographic Record Category (NDL): 111

Table of Contents

11月16日（月）「界面構造／組成評価」

反射電子顕微鏡 市川昌和（アトムテクノロジー研究体）/ 1ー11

透過電子顕微鏡法 田中信夫（名古屋大学工学研究科）/ 12ー21

X線光電子分光法 服部健雄（武蔵工業大学工学部）/ 22ー32

X線回折・X線定在波法 秋本晃一（名古屋大学工学研究科）/ 33ー43