材料研究のための分光法

• Material Type: 図書
• ISBN: 978-4-06-520787-1
• Title: 材料研究のための分光法
• Title Transcription: ザイリョウ ケンキュウ ノ タメ ノ ブンコウホウ
• Author/Editor: 一村信吾, 橋本哲, 飯島善時 編著
• Series Title: 分光法シリーズ ; 7
• Author/Editor (Series Title): 日本分光学会 [監修]
• Author Heading: 一村, 信吾, 1952- イチムラ, シンゴ, 1952- ( 00665886 )Authorities; 橋本, 哲, pub. 2020 ハシモト, サトシ, pub. 2020 ( 031213473 )Authorities; 飯島, 善時 イイジマ, ヨシトキ ( 001309955 )Authorities; 日本分光学会 ニホン ブンコウ ガッカイ ( 00293388 )Authorities
• Publication, Distribution, etc.: 東京 : 講談社 (出版)
• Publication Date: 2020.11
• Publication Date (W3CDTF): 2020
• Extent: 271p
• Size: 21cm
• Place of Publication (Country Code): JP
• Text Language Code: jpn
• Content Type: テキスト
• Media Type: 機器不用
• Carrier Type: 冊子
• Subject Heading: 材料科学 ザイリョウ カガク ( 01202762 )Authorities; 分光学 ブンコウガク ( 00561016 )Authorities
• NDC 10th ed.: 501.4 : Basic engineering
• NDLC: M213
• Target Audience: 一般
• Note (Bibliography): 索引あり
• Price: 5000円
• Holding library: 国立国会図書館
• Call No.: M213-M67
• Data Provider (Database): 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• Bibliographic ID (NDL): 030762923; http://id.ndl.go.jp/bib/030762923
• National Bibliography No. (JPNO): 23480892
• TOHAN MARC No.: 34142599
• Cataloging Rule: Nippon Cataloging Rules 2018 Edition
• Bibliographic Record Category (NDL): 111

• Summary, etc.: 日本分光学会監修「分光法シリーズ」の発展編第１弾！ 大学や研究機関、企業の第一人者の解説で材料分析を概観できる専門書。(Provided by: 出版情報登録センター（JPRO）)
• Author introduction: 一村 信吾 早稲田大学 リサーチイノベーションセンター 研究戦略部門 教授橋本 哲 JFEテクノリサーチ株式会社 営業本部／機能材料ソリューション本部 ナノ解析センター 専門技監飯島 善時 東京農工大学 学術研究支援総合センター 設備サポート室...

Table of Contents

第1章　本書のねらい
第2章　分光分析法の選択に向けて
2.1　分析目的にもとづく分光分析法の選択
　2.1.1　元素・化学組成分析
　2.1.2　状態分析
　2.1.3　構造分析
2.2　分析対象にもとづく分光分析法の選択
　2.2.1　局所分析
　2.2.2　微量分析
2.3　材料の種類にもとづく分光分析法の選択
　2.3.1　材料の分類
　2.3.2　何を分析するか？
　2.3.3　分光分析法の選択フロー
2.4　複合化と標準化
　2.4.1　複合化
　2.4.2　標準化
第3章　材料研究への分光法の適用―事例に学ぶ
3.1　金属材料
3.2　半導体材料
3.3　磁性薄膜（磁気デバイス）材料
3.4　有機化合物材料
3.5　触媒材料
3.6　セラミックス材料
3.7　電池材料
3.8　複合材料
第4章　分光法各論
4.1　電子を利用した分光分析法
　4.1.1　オージェ電子分光法
　4.1.2　X線光電子分光法
　4.1.3　透過電子顕微鏡／エネルギー分光分析
　4.1.4　電子スピン共鳴分光法
4.2　X線・光を利用した分光分析法
　4.2.1　X線吸収微細構造解析
　4.2.2　X線回折法
　4.2.3　フーリエ変換赤外分光法
　4.2.4　ラマン分光法
4.3　イオン・中性粒子を利用した分光分析法
　4.3.1　二次イオン質量分析法
　4.3.2　イオン散乱分光法
　4.3.3　走査プローブ顕微鏡法
　4.3.4　中性子散乱法