Study on the charge trapping phenomena in silicon carbonitride films for nonvolatile semiconductor memory applications

• Material Type: 博士論文
• Title: Study on the charge trapping phenomena in silicon carbonitride films for nonvolatile semiconductor memory applications
• Author/Editor: Ahmed Sheikh Rashel Al
• Author Heading: Ahmed Sheikh Rashel Al
• Publication, Distribution, etc.: 東海大学
• Publication Date: 2017-09-21
• Publication Date (W3CDTF): 2017-09-21
• Alternative Title: 不揮発性半導体メモリへの応用のためのシリコン炭窒化膜の電荷捕獲現象に関する研究; フキハツセイ ハンドウタイ メモリ エノ オウヨウ ノ タメノ シリコン タンチッカマク ノ デンカ ホカク ゲンショウ ニ カンスル ケンキュウ
• Degree grantor/type: 東海大学
• Date Granted: 2017-09-21
• Date Granted (W3CDTF): 2017-09-21
• Dissertation Number: 甲第1035号
• Degree Type: 博士(工学)
• Conferring No. (Dissertation): 甲第1035号
• Text Language Code: eng
• Subject Heading: nonvolatile memory; silicon carbonitride; charge centroid; charge retention; charge trap center; 不揮発性メモリ; シリコン炭窒化膜; 電荷重心; 電荷保持特性; 電荷捕獲中心
• Target Audience: 一般
• Persistent ID (NDL): info:ndljp/pid/10993893; https://dl.ndl.go.jp/pid/10993893
• Collection: 障害者向け資料
• Collection (Materials For Handicapped People:1): テキストデータ
• Collection (particular): 国立国会図書館デジタルコレクション > デジタル化資料 > 博士論文; https://dl.ndl.go.jp/collections/A00014
• Acquisition Basis: 博士論文（自動収集）
• Date Accepted (W3CDTF): 2017-12-04T02:02:48+09:00
• Format (IMT): application/pdf
• Access Restrictions: 国立国会図書館内限定公開
• Service for the Digitized Contents Transmission Service: 図書館・個人送信対象外
• Availability of remote photoduplication service: 可
• Periodical Title (URI): https://opac.time.u-tokai.ac.jp/webopac/TD00000264
• Data Provider (Database): 国立国会図書館 : 国立国会図書館デジタルコレクション; https://dl.ndl.go.jp

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2023-12-08 再収集

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