半導体材料プロセスにおける結晶欠陥の生成消滅とその透過電子顕微鏡による評価法に関する研究
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Bibliographic Record
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- Material Type
- 博士論文
- Author/Editor
- 岩田, 博之
- Author Heading
- Publication, Distribution, etc.
- Publication Date
- 2018-03-23
- Publication Date (W3CDTF)
- 2018-03-23
- Alternative Title
- ハンドウタイ ザイリョウ プロセス ニオケル ケッショウ ケッカン ノ セイセイ ショウメツ ト ソノ トウカ デンシ ケンビキョウ ニヨル ヒョウカホウ ニカンスル ケンキュウ
- Pages
- 1-144
- Degree Grantor
- 愛知工業大学
- Date Granted
- 2018-03-23
- Date Granted (W3CDTF)
- 2018-03-23
- Dissertation Number
- 乙第30号
- Degree Type
- 博士(工学)
- Conferring No. (Dissertation)
- 乙第30号
- Text Language Code
- jpn
- Target Audience
- 一般
- Note (General)
- identifier:http://repository.aitech.ac.jp/dspace/handle/11133/3308
- Persistent ID (NDL)
- info:ndljp/pid/11362423
- Collection
- Collection (Materials For Handicapped People:1)
- Collection (particular)
- 国立国会図書館デジタルコレクション > デジタル化資料 > 博士論文
- Acquisition Basis
- 博士論文(自動収集)
- Date Accepted (W3CDTF)
- 2019-10-04T14:36:02+09:00
- Format (IMT)
- application/pdf
- Access Restrictions
- 国立国会図書館内限定公開
- Service for the Digitized Contents Transmission Service
- 図書館・個人送信対象外
- Availability of remote photoduplication service
- 可
- Periodical Title (URI)
- Data Provider (Database)
- 国立国会図書館 : 国立国会図書館デジタルコレクション