角度分解X線光電子分光分析法によるSiO[2]/Si(100) 系の評価 : 光電子回折および非弾性散乱過程の影響に関する研究

• Material Type: 博士論文
• Title: 角度分解X線光電子分光分析法によるSiO[2]/Si(100) 系の評価 : 光電子回折および非弾性散乱過程の影響に関する研究
• Title Transcription: カクド ブンカイ Xセン コウデンシ ブンコウ ブンセキ ホウ ニ ヨル SiO2/Si(100) ケイ ノ ヒョウカ : コウデンシ カイセツ オヨビ ヒダンセイ サンラン カテイ ノ エイキョウ ニ カンスル ケンキュウ
• Author/Editor: 片山俊治 [著]
• Author Heading: 片山, 俊治 カタヤマ, トシハル
• Extent: 冊
• Degree Grantor: 大阪大学
• Date Granted: 平成11年9月30日
• Date Granted (W3CDTF): 1999
• Dissertation Number: 甲第7092号
• Degree Type: 博士 (工学)
• Note (Dissertation): 博士論文
• Place of Publication (Country Code): JP
• NDLC: UT51
• Note (General): 博士論文
• Holding library: 国立国会図書館
• Call No.: UT51-99-Z157
• Data Provider (Database): 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• Bibliographic ID (NDL): 000000347048; http://id.ndl.go.jp/bib/000000347048
• Bibliographic Record Category (NDL): 213

• DOI: 10.11501/3161855; https://doi.org/10.11501/3161855
• Persistent ID (NDL): info:ndljp/pid/3161855; https://dl.ndl.go.jp/pid/3161855
• Collection: 障害者向け資料
• Collection (Materials For Handicapped People:1): テキストデータ
• Collection (Materials For Handicapped People:2): プレーンテキスト
• Collection (particular): 国立国会図書館デジタルコレクション > デジタル化資料 > 博士論文; https://dl.ndl.go.jp/collections/A00014
• Producer: 国立国会図書館
• Date Accepted (W3CDTF): 2011-12-06T10:45:32+09:00
• Format (IMT): image/jp2
• Access Restrictions: 国立国会図書館内限定公開
• Service for the Digitized Contents Transmission Service: 図書館・個人送信対象
• Availability of remote photoduplication service: 可
• Call No.: UT51-99-Z157
• Data Provider (Database): 国立国会図書館 : 国立国会図書館デジタルコレクション; https://dl.ndl.go.jp

Table of Contents

目次

第1章 序論

参考文献

第2章 角度分解X線光電子分光分析法

2.1 序