Omron technics : オムロングループ技術論文誌33(3)(107)

• Material Type: 雑誌
• Title: Omron technics : オムロングループ技術論文誌
• Title Transcription: Omron technics : オムロン グループ ギジュツ ロンブンシ
• Volume: 33(3)(107)
• Author Heading: オムロン株式会社 オムロン カブシキ ガイシャ ( 00628321 )Authorities; 立石電機株式会社 タテイシ デンキ カブシキ ガイシャ ( 00304552 )Authorities
• Publication, Distribution, etc.: 木津川 : オムロン技術・知財本部
• Publication Date: 1993-09
• Publication Date (W3CDTF): 1993-09
• Note (Publication, distribution, etc.): 出版地の変更あり; 1巻1号から29巻4号までの出版者: 立石電機; 1巻1号から45巻1号までの頒布者: オーム社
• Year and volume of publication: 1巻1号 (昭和36年5月)-7巻4号 (昭和42年11月) ; 8巻1号 = 25号 (昭和43年3月)-20巻2号 = 67号 (昭和56年5月) ; 68号 (昭和56年9月)-76号 (昭和60年12月) ; 26巻1号 = 77号 (昭和61年3月)-
• Size: 26-30cm
• ISSN (Periodical Title): 0474-1315
• ISSN-L (Periodical Title): 0474-1315
• Place of Publication (Country Code): JP
• Text Language Code: jpn
• NDLC: ZN31
• Note (General): 本タイトル等は最新号による; 刊行頻度の変更あり; No. 161以降のタイトル関連情報: オムロングループ技術論文誌; 休刊: 2010-2017
• DOI: 10.11501/3243705; https://doi.org/10.11501/3243705
• Persistent ID (NDL): info:ndljp/pid/3243705; https://dl.ndl.go.jp/pid/3243705
• Collection (particular): 国立国会図書館デジタルコレクション > デジタル化資料 > 雑誌; https://dl.ndl.go.jp/collections/A00002
• Producer: 国立国会図書館
• Production year (W3CDTF): 2011-03-31
• Date Accepted (W3CDTF): 2012-01-27T14:38:18+09:00
• Format (IMT): image/jp2
• Access Restrictions: 国立国会図書館内限定公開
• Service for the Digitized Contents Transmission Service: 図書館・個人送信対象
• Availability of remote photoduplication service: 可
• Year and volume of holding: 1巻1号 (昭和36年5月)-7巻4号 (昭和42年11月) ; 8巻1号 = 25号 (昭和43年3月)-20巻2号 = 67号 (昭和56年5月) ; 68号 (昭和56年9月)-76号 (昭和60年12月) ; 26巻1号 = 77号 (昭和61年3月)- (欠: 3巻2, 3号)
• Call No.: Z16-281
• Original Material (JPNO): 00000457
• Periodical Title (Persistent ID (NDL)): info:ndljp/pid/3380769; https://dl.ndl.go.jp/pid/3380769
• Data Provider (Database): 国立国会図書館 : 国立国会図書館デジタルコレクション; https://dl.ndl.go.jp

Table of Contents

RISC周辺チップセットの開発--プラットフォームとしてのアーキテクチャについて

リアルタイム構造化分析技法を用いた要求仕様記述--自動預金支払機のソフトウェア開発への適用事例について

スイッチの疲労解析事例--構造解析用ソフトMARCによる疲労破壊箇所の検出と評価について

DAE/SYSNET対応ソフトウェア--OS/2での通信ソフトウェア開発について

ニッケルめっきコンタクト接触信頼性--バッテリ用コネクタの開発について