SIMSプログラム補正方法の提案とSi-SiO2界面のボロンパイルアップの解析
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Bibliographic Record
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- Material Type
- 記事
- Author/Editor
- 兵頭敏宏吉田典生渡辺博文
- Publication, Distribution, etc.
- Publication Date
- 1997-09-25
- Publication Date (W3CDTF)
- 1997-09-25
- Extent
- 容量 : 022_029.pdf(378874bytes)
- Alternative Title
- New correction method for SIMS profile and analysis of boron pile-up at the Si-SiO2 interface
- Periodical title
- Ricoh technical report
- No. or year of volume/issue
- (23)
- Volume
- (23)
- Text Language Code
- jpn
- Persistent ID (NDL)
- info:ndljp/pid/3513168
- Collection
- Collection (Materials For Handicapped People:1)
- Collection (particular)
- 国立国会図書館デジタルコレクション > 電子書籍・電子雑誌 > その他
- Acquisition Basis
- インターネット資料収集保存事業(WARP)
- Date Accepted (W3CDTF)
- 2012-07-31T00:39:07+09:00
- Date Captured (W3CDTF)
- 2009-12-10
- Format (IMT)
- application/pdf
- Access Restrictions
- インターネット公開
- Availability of remote photoduplication service
- 不可
- Periodical Title (URI)
- Periodical Title (Persistent ID (NDL))
- info:ndljp/pid/3513164
- Data Provider (Database)
- 国立国会図書館 : 国立国会図書館デジタルコレクション