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製造後にタイミング補正可能なオンチップバスアーキテクチャ

製造後にタイミング補正可能なオンチップバスアーキテクチャ
Digital文書・図像類
山口, 聖貴, 室山, 真徳, 石原, 亨, 安浦, 寛人電子情報通信学会2007-11-20電子情報通信学会技術研究報告, VLD2007-79107p.55-60
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  • Subject Heading製造ばらつき Deep Sub-Micron 製造後性能補償 CMOS

90nmCMOS回路における遅延・電力ばらつきのゲート段数およびゲート幅依存性に関する考察

90nmCMOS回路における遅延・電力ばらつきのゲート段数およびゲート幅依存性に関する考察
Digital文書・図像類
山口, 聖貴, Yang, Yuan, 坂本, 良太, 室山, 真徳, 石原, 亨, 安浦, 寛人電気情報通信学会2007-03電子情報通信学会技術研究報告, VLD2006-118p.73-78
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  • Subject Heading遅延ばらつき 電力ばらつき Deep Sub-Micron CMOS Delay Variation Power Va...

90nmCMOS回路における遅延および電力ばらつきの実測と解析

90nmCMOS回路における遅延および電力ばらつきの実測と解析
Digital文書・図像類
山口, 聖貴, Yang, Yuan, 樽見, 幸祐, 坂本, 良太, 室山, 真徳, 石原, 亨, 安浦, 寛人電子情報通信学会VLD研究会2006-05電子情報通信学会技術研究報告, VLD2006-13(2006-05)p.41-46
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  • Subject Heading遅延ばらつき 電力ばらつき Deep Sub-Micron CMOS Delay Variation Power Va...

CMOSプロセスにおけるゲート遅延ばらつき測定回路の提案

CMOSプロセスにおけるゲート遅延ばらつき測定回路の提案
Digital文書・図像類
坂本, 良太, 室山, 真徳, 樽見, 幸祐, 安浦, 寛人電子情報通信学会ICD研究会2005-08電子情報通信学会技術研究報告, ICD2005-70105 234p.19-23
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  • Subject Headingゲート遅延 Deep Sub-Micron ばらつき測定回路 CMOS gate-delay Vari...

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