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検索結果 12 件

電子顕微鏡法を用いたワイドバンドギャップ半導体の結晶欠陥解析に関する研究

電子顕微鏡法を用いたワイドバンドギャップ半導体の結晶欠陥解析に関する研究
デジタル博士論文障害者向け資料あり
佐藤, 高広2018-09-25
国立国会図書館
  • 件名ワイドバンドギャップ半導体 4H-SiC GaN 結晶欠陥 転位 表面欠陥 走査透過電子顕微鏡 走査電子顕微鏡 集束イオンビーム加工装置 多方向観察 MD...
  • 一般注記...度化である。本論文では、多方向走査透過電子顕微鏡法による表面モフォロジーと転位に関する一貫解析法、トリプルビ...

最大エントロピー法を用いた画像修復による電子顕微鏡の高解像度化に関する研究

最大エントロピー法を用いた画像修復による電子顕微鏡の高解像度化に関する研究
紙図書
花井孝明, 名古屋大学1995-1996<Y151-H07650395>
国立国会図書館
  • 件名最大エントロピー法 画像修復 電子顕微鏡 量子ノイズ 走査透過電子顕微鏡

球面収差補正用サイドエントリー薄膜レンズによる走査透過電子顕微鏡の高分解能化

球面収差補正用サイドエントリー薄膜レンズによる走査透過電子顕微鏡の高分解能化
紙図書
花井, 孝明, 名古屋大学1993-1995<Y151-H05555099>
国立国会図書館
  • 件名球面収差 収差補正 薄膜レンズ 走査透過電子顕微鏡 陰影像 電子プローブ 量子ノイズ

高感度・高解像度元素マツピング像観察の研究

高感度・高解像度元素マツピング像観察の研究
紙図書
日比野, 倫夫, 名古屋大学1992-1993<Y151-H04452103>
国立国会図書館
  • 件名元素マツピング パラレル電子エネルギー損失分光法 走査透過電子顕微鏡 検出量子効率 球面収差補正 薄膜レンズ

試料損傷のない高解像度電子顕微鏡観察法の研究

試料損傷のない高解像度電子顕微鏡観察法の研究
紙図書
日比野, 倫夫, 名古屋大学1987-1989<Y151-S62420021>
国立国会図書館
  • 件名超高圧走査透過電子顕微鏡 電界放出電子銃 高解像度観察 試料損傷 信号電子検出法 信...

球面収差補正用薄膜レンズを用いた走査透過電子顕微鏡の高分解能化に関する研究

球面収差補正用薄膜レンズを用いた走査透過電子顕微鏡の高分解能化に関する研究
紙図書
日比野, 倫夫, 名古屋大学1986-1987<Y151-S61850069>
国立国会図書館
  • 件名電子レンズ 球面収差 収差補正 薄膜レンズ 電子プローブ 走査透過電子顕微鏡 (STEM) 分解能 SN比

電子顕微鏡法を用いたワイドバンドギャップ半導体の結晶欠陥解析に関する研究

電子顕微鏡法を用いたワイドバンドギャップ半導体の結晶欠陥解析に関する研究
デジタル博士論文
佐藤, 高広2018-09-25
インターネットで読める全国の図書館
  • 件名ワイドバンドギャップ半導体 4H-SiC GaN 結晶欠陥 転位 表面欠陥 走査透過電子顕微鏡 走査電子顕微鏡 集束イオンビーム加工装置 多方向観察 MD...
  • 一般注記...度化である。本論文では、多方向走査透過電子顕微鏡法による表面モフォロジーと転位に関する一貫解析法、トリプルビ...

走査透過電子顕微鏡における弾性・非弾性散乱信号のオンライン・デイジタル演算処理

走査透過電子顕微鏡における弾性・非弾性散乱信号のオンライン・デイジタル演算処理
紙図書
日比野, 倫夫, 名古屋大学1988-1989<Y151-S63850078>
国立国会図書館
  • 件名走査透過電子顕微鏡 弾性散乱電子 非弾性散乱電子 デイジタル処理システム 電子...

高感度・高解像度元素マッピング像観察の研究

高感度・高解像度元素マッピング像観察の研究
デジタルその他
日比野, 倫夫, 花井, 孝明, 杉山, せつ子1994-03
インターネットで読める全国の図書館
  • 要約等...ギ-損失分光法(PEELS)と走査透過電子顕微鏡(STEM)を組み合わせて,元素濃度を像の濃淡として表す元素...
  • 件名...ル電子エネルギ- 損失分光法 走査透過電子顕微鏡 検出量子効率 元素マッピング像 走査透過電子顕微鏡法 scanning transmission electr...

試料損傷のない高解像度電子顕微鏡観察法の研究

試料損傷のない高解像度電子顕微鏡観察法の研究
デジタルその他
日比野, 倫夫, 丸勢, 進, 下山, 宏, 杉山, せつ子, 花井, 孝明, 内川, 嘉樹1990-03
インターネットで読める全国の図書館
  • 件名試料損傷 高解像度電子顕微鏡観察 像のSN比 画像処理 走査透過電子顕微鏡 電界放出電子銃 超高圧走査透過電子顕微鏡 Image processing 信号電子検出法 Sign...

球面収差補正用薄膜レンズを用いた走査透過電子顕微鏡の高分解能化に関する研究

球面収差補正用薄膜レンズを用いた走査透過電子顕微鏡の高分解能化に関する研究
デジタルその他
日比野, 倫夫, 花井, 孝明, 杉山, せつ子, 下山, 宏1988-03
インターネットで読める全国の図書館
  • 要約等電子レンズの球面を補正する薄膜レンズを用いて, 走査透過電子顕微鏡(STEM)の分解能の向上を目指した研究を行い, 次の成果を...
  • 件名電子レンズ 走査透過電子顕微鏡(STEM) 薄膜レンズ 球面収差 Electron len...

走査透過電子顕微鏡における弾性・非弾性散乱信号のオンライン・ディジタル演算処理

走査透過電子顕微鏡における弾性・非弾性散乱信号のオンライン・ディジタル演算処理
デジタルその他
日比野, 倫夫, 下山, 宏, 杉山, せつ子, 花井, 孝明1990-03
インターネットで読める全国の図書館
  • 要約等1.電子検出法の改善 STEM(走査透過電子顕微鏡)における電子検出器として従来使われているP46粉末蛍光体に...
  • 件名走査透過電子顕微鏡 非弾性散乱電子 特殊コントラスト 電子信号間演算 弾性散乱...

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