本文に飛ぶ
国立国会図書館サーチ（NDL SEARCH）
メニューを開く
検索
絞り込み条件
絞り込み条件
図書館
項目を閉じる
国立国会図書館
全国の図書館
インターネットで閲覧できるものに絞る
タイトル
項目を閉じる
著者・編者
項目を閉じる
出版者
項目を閉じる
出版年（西暦）
項目を閉じる
年
〜
年
開く
2000年代
(2)
ISBN / ISSN
項目を閉じる
請求記号
項目を閉じる
資料種別
ヘルプページへのリンク
項目を閉じる
図書
（1）
雑誌
新聞
和古書・漢籍
博士論文
地図
楽譜
webサイト
電子書籍・電子雑誌
電子資料
映像資料
録音資料
規格・テクニカルリポート類
文書・図像類
すべて解除
雑誌記事等
資料形態
ヘルプページへのリンク
項目を閉じる
デジタル
（1）
紙
（1）
マイクロ
記録メディア
すべて解除
件名
ヘルプページへのリンク
項目を閉じる
絞り込み条件
絞り込み条件
検索結果 2 件
20件ずつ表示
50件ずつ表示
100件ずつ表示
リスト表示
サムネイル表示
テーブル表示
適合度順
出版年：古い順
出版年：新しい順
タイトル：昇順
タイトル：降順
著者：昇順
著者：降順
請求記号順
タイトルでまとめる
一括お気に入り
単一電子トラップ直視技術の開発とそれを用いた極薄ゲート絶縁膜の劣化機構の解明
単一電子トラップ直視技術の開発とそれを用いた極薄ゲート絶縁膜の劣化機構の解明
紙
図書
近藤博基, 安田幸夫, 名古屋大学 [著]
[近藤博基]
2001-2004
<Y151-H13305005>
国立国会図書館
件名
電流検出型原子間力顕微鏡
/ MOSキャパシタ / ゲートSiO_2膜 / ストレス...
単一電子トラップ直視技術の開発とそれを用いた極薄ゲート絶縁膜の劣化機構の解明
単一電子トラップ直視技術の開発とそれを用いた極薄ゲート絶縁膜の劣化機構の解明
デジタル
その他
近藤, 博基, 安田, 幸夫, 財満, 鎭明, 酒井, 朗, 池田, 浩也
2005-04
インターネットで読める
全国の図書館
要約等
走査型トンネル顕微鏡(STM)および
電流検出型原子間力顕微鏡
(C-AFM)を用いて、極薄シリコン酸化膜(SiO_2膜)な...
件名
... 電気伝導特性 電流スポット
電流検出型原子間力顕微鏡
電荷トラップ 高誘電率ゲート絶縁膜 高誘電率材料
検索結果は以上です。
書誌情報を一括出力
RSS
RSS