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Electrical impact of SiC structural crystal defects on high electric field devices [microform] / Philip G. Neudeck ([NASA technical memorandum] ; NASA/TM-1999-209647)
Electrical impact of SiC structural crystal defects on high electric field devices [microform] / Philip G. Neudeck ([NASA technical memorandum] ; NASA/TM-1999-209647)
マイクロ
図書
1999
<YCA-NAS 1.15:209647>
国立国会図書館
Correlation of EBIC and SWBXT imaged defects and epilayer growth pits in 6H-SiC Schottky diodes [microform] / C.M. Schnabel ... [et al.] ([NASA technical memorandum] ; NASA/TM-2000-209648)
Correlation of EBIC and SWBXT imaged defects and epilayer growth pits in 6H-SiC Schottky diodes [microform] / C.M. Schnabel ... [et al.] ([NASA technical memorandum] ; NASA/TM-2000-209648)
マイクロ
図書
2000
<YCA-NAS 1.15:209648>
国立国会図書館
Effect of crystal defects on minority carrier diffusion length in 6H SiC measured using the electron beam induced current method [microform] / M. Tabib-Azar ([NASA contractor report] ; 205866)
Effect of crystal defects on minority carrier diffusion length in 6H SiC measured using the electron beam induced current method [microform] / M. Tabib-Azar ([NASA contractor report] ; 205866)
マイクロ
図書
1997
<YCA-NAS 1.26:205866>
国立国会図書館
Characterization of cadmium-zinc telluride crystals grown by 'contactless' PVT using synchrotron white beam topography [microform] / W. Palosz ... [et al.] (NASA/TM ; 207869)
Characterization of cadmium-zinc telluride crystals grown by 'contactless' PVT using synchrotron white beam topography [microform] / W. Palosz ... [et al.] (NASA/TM ; 207869)
マイクロ
図書
1997
<YCA-NAS 1.15:207869>
国立国会図書館
Low cycle fatigue behavior of polycrystalline NiAl at 300 and 1000K [microform] / Bradley A. Lerch and Ronald D. Noebe (NASA technical memorandum ; 105957)
Low cycle fatigue behavior of polycrystalline NiAl at 300 and 1000K [microform] / Bradley A. Lerch and Ronald D. Noebe (NASA technical memorandum ; 105957)
マイクロ
図書
1993
<YCA-NAS 1.15:105987>
国立国会図書館
The influence of reduced gravity on the crystal growth of electronic materials [microform] / Ching-Hua Su ... [et al.] (NASA-TM ; 112495)
The influence of reduced gravity on the crystal growth of electronic materials [microform] / Ching-Hua Su ... [et al.] (NASA-TM ; 112495)
マイクロ
図書
1996
<YCA-NAS 1.15:112495>
国立国会図書館
Numerical modeling of twinning in GaAs crystals during space growth process [microform] : final report for NAG3-1738 / C.T. Tsai ([NASA contractor report] ; 205781)
Numerical modeling of twinning in GaAs crystals during space growth process [microform] : final report for NAG3-1738 / C.T. Tsai ([NASA contractor report] ; 205781)
マイクロ
図書
1991
<YCA-NAS 1.26:205781>
国立国会図書館
Defect crystal chemistry and its applications
Defect crystal chemistry and its applications
紙
図書
R.J.D. Tilley
Blackie
c1987
全国の図書館
Defect analysis in electron microscopy (Science paperbacks ; 121)
Defect analysis in electron microscopy (Science paperbacks ; 121)
紙
図書
LorettoM.H. ed.by ; SmallmanR.E. jointauthor
Chapman and Hall
1975
全国の図書館
件名
Crystals Defects
Electron microscopy
Study of oxygen atom diffusion coefficient in silicon melts
Study of oxygen atom diffusion coefficient in silicon melts
デジタル
文書・図像類
寺嶋, 一高, 西村, 鈴香, 北村, 大剛, Terashima, Kazutaka, Nishimura, Suzuka, Kitamura, Daigo
宇宙開発事業団
2002-12-27
宇宙開発事業団技術報告: Modeling and Precise Experiments of Diffusion Phenomena in Melts Under Microgravity: Annual Reports 2001 = NASDA Technical Memorandum: Modeling and Precise Experiments of Diffusion Phenomena in Melts Under Microgravity: Annual Reports 2001
p.143-145
全国の図書館
微小重力下における帯溶融法によるPbSnTe単結晶の試作
微小重力下における帯溶融法によるPbSnTe単結晶の試作
デジタル
文書・図像類
岩井, 荘八, 瀬川, 勇三郎, Iwai, Sohachi, Segawa, Yusaburo
宇宙開発事業団
1994-10-20
宇宙開発事業団技術報告 = NASDA Technical Memorandum
p.468-498
全国の図書館
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