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単一電子トラップ直視技術の開発とそれを用いた極薄ゲート絶縁膜の劣化機構の解明

単一電子トラップ直視技術の開発とそれを用いた極薄ゲート絶縁膜の劣化機構の解明
紙図書
近藤博基, 安田幸夫, 名古屋大学 [著][近藤博基]2001-2004<Y151-H13305005>
国立国会図書館
  • 件名電流検出型原子間力顕微鏡 / MOSキャパシタ / ゲートSiO_2膜 / ストレス誘起欠陥 / 絶縁破壊

貴金属ゲートMOSキヤパシタセンサを用いる高温高圧水用溶存酸素計測システムの試作

貴金属ゲートMOSキヤパシタセンサを用いる高温高圧水用溶存酸素計測システムの試作
紙図書
原, 信義, 東北大学1995-1996<Y151-H07555214>
国立国会図書館
  • 件名溶存酸素センサ 高温高圧水 MOSキヤパシタ EOSキヤパシタ 腐食電位

サイズ・密度制御二次元ナノドット配列の作製とその電子注入評価

サイズ・密度制御二次元ナノドット配列の作製とその電子注入評価
デジタル博士論文
山田, 聖人奈良先端科学技術大学院大学2007-09-28
全国の図書館
  • 件名バイオナノプロセス フェリチン ナノドット MOSキャパシタ フローティングナノドットゲートメモリ 不揮発性メモリ

単一電子トラップ直視技術の開発とそれを用いた極薄ゲート絶縁膜の劣化機構の解明

単一電子トラップ直視技術の開発とそれを用いた極薄ゲート絶縁膜の劣化機構の解明
デジタル文書・図像類
近藤, 博基, 安田, 幸夫, 財満, 鎭明, 酒井, 朗, 池田, 浩也2005-04
インターネットで読める全国の図書館
  • 件名..._3- Al_2O_3複合膜 MOSキャパシタ Metal-oxide-Semiconductor Met...

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