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負バイアス温度不安定性現象 : (NBTI)を中心として (故障物理研究委員会研究成果報告書 ; 平成19年度)

負バイアス温度不安定性現象 : (NBTI)を中心として (故障物理研究委員会研究成果報告書 ; 平成19年度)
紙図書
日本電子部品信頼性センター2008.3<ND386-J29>
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次世代技術ロードマップと信頼性課題 (故障物理研究委員会研究成果報告書 ; 平成18年度)

次世代技術ロードマップと信頼性課題 (故障物理研究委員会研究成果報告書 ; 平成18年度)
紙図書
日本電子部品信頼性センター2007.3<ND386-H215>
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負バイアス温度不安定性(NBTI)現象とランダム・テレグラフ・シグナル(RTS)ノイズ現象 (故障物理研究委員会研究成果報告書 ; 平成20年度)

負バイアス温度不安定性(NBTI)現象とランダム・テレグラフ・シグナル(RTS)ノイズ現象 (故障物理研究委員会研究成果報告書 ; 平成20年度)
紙図書
日本電子部品信頼性センター2009.3<ND386-J58>
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バーンイン技術と最新ULSI信頼性の話題 (故障物理研究委員会研究成果報告書 ; 平成16年度)

バーンイン技術と最新ULSI信頼性の話題 (故障物理研究委員会研究成果報告書 ; 平成16年度)
紙図書
日本電子部品信頼性センター2005.3<ND386-H121>
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最新ULSI故障物理及び最新不揮発性メモリ技術と信頼性 (故障物理研究委員会研究成果報告書 ; 平成17年度)

最新ULSI故障物理及び最新不揮発性メモリ技術と信頼性 (故障物理研究委員会研究成果報告書 ; 平成17年度)
紙図書
日本電子部品信頼性センター2006.3<ND386-H166>
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最新ULSI要素技術の故障物理とバーンイン技術 (故障物理研究委員会研究成果報告書 ; 平成15年度)

最新ULSI要素技術の故障物理とバーンイン技術 (故障物理研究委員会研究成果報告書 ; 平成15年度)
紙図書
日本電子部品信頼性センター2004.3<ND386-H89>
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最新VLSI要素技術(酸化膜と多層配線)の故障物理と信頼性から見たSi半導体技術の限界 (故障物理研究委員会研究成果報告書 ; 平成13年度)

最新VLSI要素技術(酸化膜と多層配線)の故障物理と信頼性から見たSi半導体技術の限界 (故障物理研究委員会研究成果報告書 ; 平成13年度)
紙図書
日本電子部品信頼性センター2002.3<ND386-G227>
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故障物理研究委員会研究成果報告書 : 最新ＶＬＳＩ要素技術（酸化膜と多層配線）の信頼性と微細化限界 平成１４年度

故障物理研究委員会研究成果報告書 : 最新ＶＬＳＩ要素技術（酸化膜と多層配線）の信頼性と微細化限界 平成１４年度
紙図書
日本電子部品信頼性センター 編日本電子部品信頼性センター２００３．３
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  • タイトル標目故障物理研究委員会研究成果報告書

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