表面科学 = Journal of the Surface Science Society of Japan

• 資料種別: 雑誌
• タイトル: 表面科学
• タイトルよみ: ヒョウメン カガク
• 巻次・部編番号: 28(1)-28(12) 20070100-20071200
• 著者・編者: 日本表面科学会 編
• 著者標目: 日本表面科学会 ニホン ヒョウメン カガッカイ ( 00293747 )典拠
• 出版事項: 東京 : 日本表面科学会
• 出版年月日等: 2007
• 出版年（W3CDTF）: 2007
• 刊行巻次・年月次: 1巻1号 (1980年6月)-38巻12号 (2017年12月)
• 大きさ: 26-30cm
• 並列タイトル等: Journal of the Surface Science Society of Japan Journal of the Surface Science Society of Japan; Journal of the Surface Science Society of Japan
• ISSN（掲載誌）: 0388-5321
• ISSN-L（掲載誌）: 0388-5321
• 出版地（国名コード）: JP
• 本文の言語コード: jpn
• NDLC: ZM35
• 一般注記: 本タイトル等は最新号による; 刊行頻度の変更あり
• 総目次・総索引注記: 総索引あり
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: Z15-379
• 改題後: 合併後 : 表面と真空 / 日本表面科学会, 日本真空学会 編 (ISSN:2433-5835); https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R100000002-I028592749
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 000000033734; http://id.ndl.go.jp/bib/000000033734
• 目録規則: 国立国会図書館逐次刊行物目録規則

目次

特集:酸化物界面の電子状態・構造

General Guidelines for the Heteroepitaxial Thin Film Growth Established by Combinatorial X-ray Diffraction (特集:酸化物界面の電子状態・構造)

ペロブスカイト型酸化物界面の抵抗スイッチング効果 (特集:酸化物界面の電子状態・構造)

MgO(001)トンネル障壁のトンネル磁気抵抗効果と界面状態 (特集:酸化物界面の電子状態・構造)

先端LSIに向けた直接接合極薄ランタンアルミネートゲート絶縁膜 (特集:酸化物界面の電子状態・構造)

特集:半導体プロセスの評価

質量分離フルオロカーボンイオンビームによるシリコン酸化膜エッチング表面反応 (特集:半導体プロセスの評価)

配線信頼性における界面密着性の役割 (特集:半導体プロセスの評価)

低エネルギー酸素イオンを用いたSIMS深さ方向分析--測定プロファイルにおける拡散と偏析の影響 (特集:半導体プロセスの評価)

走査型非線形誘電率顕微鏡によるフラッシュメモリ中の蓄積電荷の可視化 (特集:半導体プロセスの評価)

特集 第一原理計算

(第一原理)バンド計算と実験との距離 (特集 第一原理計算)

第一原理計算の諸条件--サンプルk点,カットオフ・エネルギー,擬ポテンシャル (特集 第一原理計算)

第一原理計算による構造最適化とその周辺 (特集 第一原理計算)

表面-分子相互作用系の量子化学計算に関する最近の動向 (特集 第一原理計算)

特集 細胞機能と表面科学

多剤排出トランスポーターの構造と機能 (特集 細胞機能と表面科学)

エンドソーム特異的脂質の表面物性と病態 (特集 細胞機能と表面科学)

表面を・つかんではなす・マイコプラズマ (特集 細胞機能と表面科学)

ソフトリソグラフィーを用いた細胞研究・医療用チップの開発 (特集 細胞機能と表面科学)

化学ドーピングによる有機EL素子の低駆動電圧化 (特集 有機半導体デバイスと表面・界面--デバイス技術と物性評価法の進展)

有機薄膜トランジスタにおける表面・界面の制御 (特集 有機半導体デバイスと表面・界面--デバイス技術と物性評価法の進展)

Backside SIMSによる有機EL素子界面の不純物拡散評価 (特集 有機半導体デバイスと表面・界面--デバイス技術と物性評価法の進展)

周波数変調型ケルビンプローブ原子間力顕微鏡による有機薄膜評価 (特集 有機半導体デバイスと表面・界面--デバイス技術と物性評価法の進展)

特集 有機半導体デバイスと表面・界面--デバイス技術と物性評価法の進展

特集:イオン液体研究の最前線とその応用

イオン液体研究の広がり (特集:イオン液体研究の最前線とその応用)

IV-SFGおよびMAESによるイオン液体の表面構造観察 (特集:イオン液体研究の最前線とその応用)

イオン液体のトライボロジー (特集:イオン液体研究の最前線とその応用)

イオン液体の自己組織化による液晶性発現と機能化 (特集:イオン液体研究の最前線とその応用)

第26回表面科学講演大会論文特集(1)

ArF液浸用レジストのC60イオンビームを用いたXPS深さ方向状態解析 (第26回表面科学講演大会論文特集(1))

Pt(111)表面に吸着した水分子モノマーおよびダイマーの表面ダイナミクス (第26回表面科学講演大会論文特集(1))

電気化学電位によるNi, Pd単原子接合の安定性制御 (第26回表面科学講演大会論文特集(1))

NC-AFMとSTMによるルチルTiO2(011)表面構造の研究 (第26回表面科学講演大会論文特集(1))

第26回表面科学講演大会論文特集(2)

ナノインプリントリソグラフィーによるモルフォブルー量産技術の開発 (第26回表面科学講演大会論文特集(2))

Si(001)ステップからの表面応力によるダイマー構造変化のLT-NC-AFM測定 (第26回表面科学講演大会論文特集(2))

ナノギャップ間における単一カーボンフラーレン分子の形状変化 (第26回表面科学講演大会論文特集(2))

血管内皮細胞の初期伸展に及ぼすハニカムフィルム細孔径の影響 (第26回表面科学講演大会論文特集(2))

X線反射率法を用いたSIトレーサブルな膜厚評価--試料表面形状評価による不確かさ低減効果

Ge/Si(111)-7×7ヘテロエピタキシャル成長におけるストレスその場測定

高分子材料のXPS深さ方向分析におけるC60イオンビーム入射角の影響

赤外振動分光によるカーボンナノチューブ表面化学状態評価

機械的作用による金表面の活性化

特集:単結晶酸化物表面の物理と化学--二酸化チタンを中心に

TiO2(110)表面の水の吸着--線状酸素欠陥構造に依存した表面水酸基の配列構造 (特集:単結晶酸化物表面の物理と化学--二酸化チタンを中心に)

TiO2(110)表面の化学反応の理論的なアプローチ (特集:単結晶酸化物表面の物理と化学--二酸化チタンを中心に)

Advances in the surface science of Ti02: a global perspective (特集:単結晶酸化物表面の物理と化学--二酸化チタンを中心に)

二酸化チタンヘテロナノ構造の精密設計と新現象・機能探索 (特集:単結晶酸化物表面の物理と化学--二酸化チタンを中心に)

表面科学からノーベル化学賞 Gerhard ERTL博士(Fritz Haber Institute of Max Planck Society)

特集 極薄膜の深さ方向分析

角度分解光電子分光法による深さ方向組成分析の高精度化の試み (特集 極薄膜の深さ方向分析)

高分解能RBS法の原理と分析精度 (特集 極薄膜の深さ方向分析)

HfO2/SiO2界面の熱安定性のHAADF-STEM評価--Hf分布の定量的測定と拡散係数の決定 (特集 極薄膜の深さ方向分析)

特集 埋もれたサブサーフェイス・界面を探る

斜入射X線回折によるシリコンナノ薄膜の歪解析 (特集 埋もれたサブサーフェイス・界面を探る)

新しい界面選択的な偶数次非線形分光 (特集 埋もれたサブサーフェイス・界面を探る)

ポリマーブレンドにおける表面・界面の濃縮現象 (特集 埋もれたサブサーフェイス・界面を探る)

固体内部の電子状態を探る硬X線励起光電子分光 (特集 埋もれたサブサーフェイス・界面を探る)