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National Diet Library
- Subject Heading格子歪み / Si熱酸化 / 反応ダイナミクス / RHEED-AES / リアルタイムモニタリング / Si原子放出 / 律速反応 / ゲート酸化膜
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- Subject Heading原子層MOCVD / 分光エリプソメトリ / 高誘電率ゲート酸化膜 / 薄膜堆積その場観察 / MOSFET / チャネル移...
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- Subject Headingドライプロセス 低温プロセス 超LSI 半導体製造装置 イオン注入 静電気障害 MOSFET ゲート酸化
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- Subject Heading負イオン注入 負イオンビーム輸送 チヤージアツプ 二次電子エネルギー分布 二次電子放出比 帯電緩和 絶縁物 ゲート酸化膜