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非接触過渡容量分光法によるHigh-kゲート絶縁膜及びその界面現象の解明

非接触過渡容量分光法によるHigh-kゲート絶縁膜及びその界面現象の解明
Paper図書
吉田晴彦, 兵庫県立大学 [著][吉田晴彦]2005-2006<Y151-H17560012>
National Diet Library
  • Subject HeadingHigh-k絶縁膜 / 非接触評価 / 界面トラップ / フェルミピニング / 過渡容量分光法 / C-V法

超高真空非接触・非破壊容量-電圧測定システムの開発

超高真空非接触・非破壊容量-電圧測定システムの開発
Paper図書
長谷川, 英機, 北海道大学1996-1998<Y151-H08555072>
National Diet Library
  • Subject Heading非接触・C-V 超高真空一貫システム 表面・界面準位 表面プロセス フエル...

金属/GaNおよび絶縁膜/GaN界面の制御とMIS形電界効果トランジスタの試作

金属/GaNおよび絶縁膜/GaN界面の制御とMIS形電界効果トランジスタの試作
Paper図書
澤田, 孝幸, 北海道工業大学1998-1999<Y151-H10650316>
National Diet Library
  • Subject HeadingGaN シヨツトキーダイオード MISダイオード 界面準位密度 シヨツトキー障壁高 I-V特性 C-V特性 フエルミ準位

強誘電体/導電体界面現象の解析・制御とメモリ素子への応用

強誘電体/導電体界面現象の解析・制御とメモリ素子への応用
Paper図書
清水, 勝, 姫路工業大学1995-1996<Y151-H07650374>
National Diet Library
  • Subject HeadingIrO2セラミツクターゲツト MOCVD法 Pb (Zr, Ti) O3薄膜 バリア層 SIMS DLTS法 C-V測定 界面準位

多孔性ゲルを用いたタンパク質の折れたたみ反応のスローモーション解析

多孔性ゲルを用いたタンパク質の折れたたみ反応のスローモーション解析
Paper図書
柴山修哉, 自治医科大学 [著][柴山修哉]2005-2007<Y151-H17570135>
National Diet Library

容量-周波数-温度マッピングによるワイドキャップ金属-絶縁体-半導体デバイスの解析手法

容量-周波数-温度マッピングによるワイドキャップ金属-絶縁体-半導体デバイスの解析手法
Digital博士論文障害者向け資料あり
Shih, Hong-An2014-09
National Diet Library
  • Subject Headingwide-gap MIS devices C-V characteristics frequency dis...

シリコンカーバイドの絶縁ゲート型電界効果トランジスタに対するアンモニアプラズマ前処理と界面電子物性評価

シリコンカーバイドの絶縁ゲート型電界効果トランジスタに対するアンモニアプラズマ前処理と界面電子物性評価
Digital博士論文
岩崎, 吉記奈良先端科学技術大学院大学2010-03-24
Other Libraries in Japan
  • Subject HeadingSiC MOS C-V XPS IPE

SiCパワートランジスタのC-V測定に基づく電力変換回路のための特性評価

SiCパワートランジスタのC-V測定に基づく電力変換回路のための特性評価
Digital博士論文
パンコーン, ナタパット京都大学 (Kyoto University)2010-09-24
Available onlineOther Libraries in Japan
  • Subject HeadingSiC MOSFET JFET C-V characteristics Switching beh...
  • Alternative TitleCharacterization of SiC Power Transistors for Power Conversion Circuits Based on C-V Measurement
  • Alternative TitleCharacterization of SiC Power Transistors for Power Conversion Circuits Based on C-V Measurement

容量-周波数-温度マッピングによるワイドキャップ金属-絶縁体-半導体デバイスの解析手法

容量-周波数-温度マッピングによるワイドキャップ金属-絶縁体-半導体デバイスの解析手法
Digital博士論文
Shih, Hong-An2014-09
Available onlineOther Libraries in Japan
  • Subject Headingwide-gap MIS devices C-V characteristics frequency dis...

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