「"イオン散乱"」の検索結果 | NDLサーチ

検索結果 17 件

タイトルでまとめる

2次元型検出器系低速イオンビーム散乱装置による表面ナノ構造評価と応用

紙図書

梅澤憲司, 大阪府立大学 [著][梅澤憲司]2003-2004<Y151-H15560022>

国立国会図書館

件名イオンビーム / 低速 / 飛行時間 / イオン散乱 / 表面

中エネルギー領域大角・単回衝突におけるエネルギー損失・荷電変換過程の研究

紙図書

城戸義明, 立命館大学 [著][城戸義明]2001-2003<Y151-H13640411>

国立国会図書館

件名大角・単回散乱 / 荷電変換 / 非弾性エネルギー損失 / 中エネルギーイオン散乱

酸化物薄膜最表面分析用高温精密試料台の開発と小型レーザーMBE装置との複合化

紙図書

川崎雅司, 東京工業大学1997-1999<Y151-H10555308>

国立国会図書館

件名レーザーMBE マイクロゴニオメータレーザ加熱 STM イオン散乱

極低エネルギーイオンビーム蒸着における基礎過程の研究

紙図書

生地, 文也, 九州共立大学1998-1999<Y151-H10650031>

国立国会図書館

件名イオン蒸着イオンー表面相互作用表面構造イオン散乱イオン源

超低速イオンビーム蒸着によるSi表面低次元相形成とエピタキシーの研究

紙図書

生地, 文也, 九州共立大学2000-2001<Y151-H12650033>

国立国会図書館

件名イオン蒸着エピタキシー表面構造イオンー表面相互作用イオン散乱薄膜成長荷電粒子イオンビーム

金属/ワイドギヤツプ半導体界面の研究

紙図書

成沢, 忠, 高知工科大学1999-2000<Y151-H11450021>

国立国会図書館

件名ワイドギヤツプ半導体金属-半導体界面 GaN (チツ化ガリウム) ダイヤモンド水素検出イオン散乱法

励起ガス雰囲気下の表面プロセスの光・イオンによる同時その場観察

紙図書

片山, 光浩, 大阪大学2000-2002<Y151-H12305005>

国立国会図書館

件名励起ガス雰囲気下表面プロセス低速イオン散乱反跳分光法全反射赤外分光法表面水素吸着状態プラズマ ...

重い系における分子的共鳴と核構造

紙図書

上柿, 英二, 秋田大学1987-1989<Y151-S62540195>

国立国会図書館

件名重イオン散乱分子的共鳴核構造クラスター

イオン表面ブロツキング散乱による結晶表面の研究

紙図書

万波, 通彦, 京都大学1991-1992<Y151-H03452078>

国立国会図書館

件名表面ブロツキング斜入射イオン散乱電子移行反応表面阻止能表面欠陥表面歪

飛行時間測定法を用いた中速イオン散乱法の開発と半導体プロセス評価への応用

紙図書

横山, 新, 広島大学1994-1996<Y151-H06555096>

国立国会図書館

件名中速イオン散乱イオン注入装置飛行時間測定表面損傷不純物分布半導体...

中性子過剰核の微視的理論による研究

紙図書

佐川, 弘幸, 東京大学1988-1990<Y151-S63540206>

国立国会図書館

件名中性子過剰核重イオン散乱グラウバー模型殻模型巨大共鳴直接反応模型

多孔質Si上へのGaAs分子線エピタキシヤル成長

紙図書

中島, 尚男, 大阪大学1989-1991<Y151-H01460077>

国立国会図書館

件名多孔質シリコンガリウム・ひ素分子線エピタキシヤル成長光電子分光法高速イオン散乱法反射高速電子線回折初期成長過程欠陥

表面吸着子の電子励起状態の研究

紙図書

村田, 好正, 東京大学1986-1988<Y151-S61430005>

国立国会図書館

件名金属表面化学吸着光刺激イオン脱離 ArFエキシマレーザー多光子過程超低速イオン散乱イオン中性化

時間分解光STMによる表面化学種の識別と反応制御

紙図書

河合, 七雄, 大阪大学1992-1993<Y151-H04453071>

国立国会図書館

件名...導体薄膜高温超伝導体単結晶イオン散乱分光

デバイス結晶材料およびナノ構造体の表面解析に関する研究

デジタル博士論文

首藤, 浩文

インターネットで読める全国の図書館

件名イオン散乱 CAICISS STM ZrB2 LPE成長GaN Geナ...

飛行時間測定法を用いた中速イオン散乱法の開発と半導体プロセス評価への応用

デジタル文書・図像類

横山, 新, 廣瀬, 全孝, 宮崎, 誠一, 桜田, 勇蔵

全国の図書館

件名表面損傷中速イオン散乱イオン注入装置飛行時間測定不純物分布半導体検出器ス...

飛行時間測定法を用いた中速イオン散乱法の開発と半導体プロセス評価への応用

デジタル文書・図像類

横山, 新, 廣瀬, 全孝, 宮崎, 誠一, 桜田, 勇蔵

インターネットで読める全国の図書館

件名表面損傷中速イオン散乱イオン注入装置飛行時間測定不純物分布半導体検出器ス...

検索結果は以上です。