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2016 IEEE 23rd international symposium on the physical and failure analysis of integrated circuits (IPFA 2016) : Singapore : 18-21 July 2016 : IPFA conference : Jul 2016, Singapore.
2016 IEEE 23rd international symposium on the physical and failure analysis of integrated circuits (IPFA 2016) : Singapore : 18-21 July 2016 : IPFA conference : Jul 2016, Singapore.
紙
図書
IEEE
[2016]
<M17-18-1168>
国立国会図書館
件名
...uits--Testing.
Semiconductors--Failures.
2015 IEEE 22nd international symposium on the physical and failure analysis of integrated circuits : (IPFA 2015) : Hsinchu, Taiwan : 29 June-2 July 2015 : events of IPFA 2015 : IPFA 2015 tutorial : IPFA 2015 exhibition : Jun 2015, Hsinchu, Taiwan.
2015 IEEE 22nd international symposium on the physical and failure analysis of integrated circuits : (IPFA 2015) : Hsinchu, Taiwan : 29 June-2 July 2015 : events of IPFA 2015 : IPFA 2015 tutorial : IPFA 2015 exhibition : Jun 2015, Hsinchu, Taiwan.
紙
図書
IEEE
[2015]
<M17-17-1530>
国立国会図書館
件名
...uits--Testing.
Semiconductors--Failures.
2012 10th IEEE international conference on semiconductor electronics : (ICSE 2012) : Kuala Lumpur, Malaysia : 19-21 September 2012 : IEEE-ICSE2012 : ICSE2012 : IEEE-ICSE 2012 : Sep 2012, Kuala Lumpur, Malaysia. CFP12421
2012 10th IEEE international conference on semiconductor electronics : (ICSE 2012) : Kuala Lumpur, Malaysia : 19-21 September 2012 : IEEE-ICSE2012 : ICSE2012 : IEEE-ICSE 2012 : Sep 2012, Kuala Lumpur, Malaysia. CFP12421
紙
図書
IEEE
c2012.
<M17-13-2918>
国立国会図書館
2014 IEEE 21st international symposium on the physical and failure analysis of integrated circuits : (IPFA 2014) : Singapore : 30 June-4 July 2014 : Jun 2014, Singapore.
2014 IEEE 21st international symposium on the physical and failure analysis of integrated circuits : (IPFA 2014) : Singapore : 30 June-4 July 2014 : Jun 2014, Singapore.
紙
図書
IEEE
[2014]
<M17-15-2494>
国立国会図書館
2013 20th IEEE international symposium on the physical and failure analysis of integrated circuits : (IPFA 2013) : Suzhou, China : 15-19 July 2013 : IPFA2013 : Jul 2013, Suzhou, China. CFP13777-PRT
2013 20th IEEE international symposium on the physical and failure analysis of integrated circuits : (IPFA 2013) : Suzhou, China : 15-19 July 2013 : IPFA2013 : Jul 2013, Suzhou, China. CFP13777-PRT
紙
図書
IEEE
c2013.
<M17-14-1212>
国立国会図書館
2012 19th IEEE international symposium on the physical and failure analysis of integrated circuits : (IPFA 2012) : Singapore : 2-6 July 2012 : Jul 2012, Singapore.
2012 19th IEEE international symposium on the physical and failure analysis of integrated circuits : (IPFA 2012) : Singapore : 2-6 July 2012 : Jul 2012, Singapore.
紙
図書
IEEE
c2012.
<M17-13-1384>
国立国会図書館
2008 IEEE international conference on semiconductor electronics : ICSE 2008 : proceedings : 25-27 November, 2008 : Persada Johor International Convention Centre, Johor Bahru, Johor, Malaysia. : ICSE2008 : 8th ICSE : Nov 2008, Johor Bahru, Malaysia.
2008 IEEE international conference on semiconductor electronics : ICSE 2008 : proceedings : 25-27 November, 2008 : Persada Johor International Convention Centre, Johor Bahru, Johor, Malaysia. : ICSE2008 : 8th ICSE : Nov 2008, Johor Bahru, Malaysia.
紙
図書
IEEE
c2008.
<M17-11-2695>
国立国会図書館
18th IEEE international symposium on the physical and failure analysis of integrated circuits : (IPFA 2011) : Incheon, South Korea : 4-7 July 2011 : Jul 2011, Incheon, Korea.
18th IEEE international symposium on the physical and failure analysis of integrated circuits : (IPFA 2011) : Incheon, South Korea : 4-7 July 2011 : Jul 2011, Incheon, Korea.
紙
図書
IEEE
c2011.
<M17-12-1685>
国立国会図書館
2010 17th IEEE international symposium on the physical and failure analysis of integrated circuits : (IPFA 2010) : Singapore : 5-9 July 2010 : Jul 2010, Singapore.
2010 17th IEEE international symposium on the physical and failure analysis of integrated circuits : (IPFA 2010) : Singapore : 5-9 July 2010 : Jul 2010, Singapore.
紙
図書
IEEE
c2010.
<M17-12-238>
国立国会図書館
Data mining and diagnosing IC fails
Data mining and diagnosing IC fails
紙
図書
Leendert M. Huisman
Springer
2005
全国の図書館
Failure mechanisms in semiconductor devices 2nd ed.
Failure mechanisms in semiconductor devices 2nd ed.
紙
図書
E.Ajith Amerasekera, Farid N Najm
Wiley
c1997
全国の図書館
Integrated circuit failure analysis : a guide to preparation techniques
Integrated circuit failure analysis : a guide to preparation techniques
紙
図書
Friedrich Beck ; translated by Stephen S. Wilson
John Wiley & Sons
c1998
全国の図書館
Failure analysis of integrated circuits : tools and techniques
Failure analysis of integrated circuits : tools and techniques
紙
図書
edited by Lawrence C. Wagner
Kluwer Academic Publishers
c1999
全国の図書館
Electromigration and electronic device degradation : cloth : alk. paper
Electromigration and electronic device degradation : cloth : alk. paper
紙
図書
edited by Aris Christou
Wiley
c1994
全国の図書館
The role of microscopy in semiconductor failure analysis
The role of microscopy in semiconductor failure analysis
紙
図書
B.P. Richards and P.K. Footner
Oxford University Press : Royal Microscopical Society
1992
全国の図書館
Reliability and degradation of III-V optical devices
Reliability and degradation of III-V optical devices
紙
図書
Osamu Ueda
Artech House
c1996
全国の図書館
Theory of CMOS digital circuits and circuit failures
Theory of CMOS digital circuits and circuit failures
紙
図書
Masakazu Shoji
Princeton University Press
c1992
全国の図書館
Failure mechanisms in semiconductor devices
Failure mechanisms in semiconductor devices
紙
図書
E.A. Amerasekera and D.S. Campbell
Wiley
c1987
全国の図書館
Wire bonding in microelectronics : materials, processes, reliability, and yield 2nd ed
Wire bonding in microelectronics : materials, processes, reliability, and yield 2nd ed
紙
図書
George G. Harmon
McGraw-Hill
c1997
全国の図書館
Degradation mechanisms in III-V compound semiconductor devices and structures : symposium held April 17-18, 1990, San Francisco, California, U.S.A.
Degradation mechanisms in III-V compound semiconductor devices and structures : symposium held April 17-18, 1990, San Francisco, California, U.S.A.
紙
図書
editors, V. Swaminathan, S.J. Pearton, M.O. Manasreh
Materials Research Society
c1990
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