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検索結果 67 件

二次イオン質量分析法 第2版 (表面分析技術選書)

二次イオン質量分析法 第2版 (表面分析技術選書)
紙デジタル図書
丸善出版2025.5<MC141-R13>
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  • 目次・記事1　二次イオン質量分析法（SIMS）とは何か/1.1　......これからのSIMS/索引 1　二次イオン質量分析法（SIMS）とは何か 1.1　なぜSIMSで表面分析ができる...
  • 要約等二次イオン質量分析法の基本的な使い方から、応用的な......具体的な分析事例も多数紹介。 二次イオン質量分析法（SIMS）は，試料表面にイオンビームを照射し，飛び出した二...

帯電水滴衝撃 : 二次イオン質量分析法の基礎的研究

帯電水滴衝撃 : 二次イオン質量分析法の基礎的研究
デジタル博士論文障害者向け資料あり
高石, 利央2015-03-18
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二次イオン質量分析法による高分子材料の三次元分析に関する研究

二次イオン質量分析法による高分子材料の三次元分析に関する研究
デジタル博士論文障害者向け資料あり
山崎, 温子2015-03-24
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飛行時間型二次イオン質量分析法による湿式攪拌造粒顆粒表面における結合剤の定量的評価に関する研究

飛行時間型二次イオン質量分析法による湿式攪拌造粒顆粒表面における結合剤の定量的評価に関する研究
デジタル博士論文障害者向け資料あり
古舘, 壮義東邦大学2016-03東邦大学大学院薬学研究科 博士論文
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飛行時間型二次イオン質量分析法を用いた毛髪表面の構造に関する研究

飛行時間型二次イオン質量分析法を用いた毛髪表面の構造に関する研究
紙博士論文
岡本昌幸 [著][岡本昌幸][2013]<UT51-2013-F199>
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二次イオン質量分析法 (表面分析技術選書)

二次イオン質量分析法 (表面分析技術選書)
紙図書
丸善1999.7<PA124-G6>
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半導体における二次イオン質量分析法の深さ方向分析に関する研究

半導体における二次イオン質量分析法の深さ方向分析に関する研究
紙博士論文
高野明雄 [著][高野明雄][2009]<UT51-2009-G891>
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二次イオン質量分析法を用いたナノ深さ表面層とナノ薄膜の分析評価に関する研究

二次イオン質量分析法を用いたナノ深さ表面層とナノ薄膜の分析評価に関する研究
紙博士論文
東條二三代 [著][東條二三代][2007]<UT51-2007-E687>
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二次イオン質量分析法によるホウ素同位体比測定法の開発とその物質循環研究への応用

二次イオン質量分析法によるホウ素同位体比測定法の開発とその物質循環研究への応用
紙図書
天川裕史, 東京大学 [著][天川裕史]2006-2007<Y151-H18540481>
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表面分析:SIMS : 二次イオン質量分析法の基礎と応用

表面分析:SIMS : 二次イオン質量分析法の基礎と応用
紙図書
D.ブリッグス, M.P.シーア 編, 志水隆一, 二瓶好正 監訳アグネ承風社2003.7<MC141-H14>
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二次イオン質量分析法による超高速・高集積半導体デバイス界面の高精度評価技術に関する研究

二次イオン質量分析法による超高速・高集積半導体デバイス界面の高精度評価技術に関する研究
紙博士論文
川島義也 [著][川島義也]2005<UT51-2005-H41>
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二次イオン質量分析法による半導体デバイス中不純物の定量・深さ分析に関する研究

二次イオン質量分析法による半導体デバイス中不純物の定量・深さ分析に関する研究
紙博士論文
富田充裕 [著][富田充裕]2003<UT51-2003-H877>
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飛行時間型二次イオン質量分析法の有機表面解析への応用

飛行時間型二次イオン質量分析法の有機表面解析への応用
紙デジタル博士論文障害者向け資料あり
村瀬篤 [著][村瀬篤]2001<UT51-2001-J433>
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飛行時間型二次イオン質量分析法によるDNAマイクロアレイの定量的検出および各種材料のスタティックな表面に関する研究

飛行時間型二次イオン質量分析法によるDNAマイクロアレイの定量的検出および各種材料のスタティックな表面に関する研究
紙博士論文
橋本浩行 [著][橋本浩行]2005<UT51-2005-E608>
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次世代半導体デバイス開発のための高性能二次イオン質量分析法の研究

次世代半導体デバイス開発のための高性能二次イオン質量分析法の研究
紙博士論文
山崎英之 [著][山崎英之][2001]<UT51-2002-B289>
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X線光電子分光法と飛行時間型二次イオン質量分析法の高度化および機能材料評価に関する研究

X線光電子分光法と飛行時間型二次イオン質量分析法の高度化および機能材料評価に関する研究
紙デジタル博士論文障害者向け資料あり
田中浩三 [著][田中浩三]2001<UT51-2001-N939>
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二次イオン質量分析法による半導体プロセス最適化のための評価法に関する研究

二次イオン質量分析法による半導体プロセス最適化のための評価法に関する研究
紙デジタル博士論文障害者向け資料あり
齋藤玲子 [著]<UT51-2000-F985>
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  • 目次・記事....4 概要 参考文献 第2章 二次イオン質量分析法の概観 2.1 はじめに 2.2 SIMSの原理 2.3 S...

二次イオン質量分析法による鉱物同定の試み

二次イオン質量分析法による鉱物同定の試み
紙図書
西村, 宏, 鳴門教育大学1995-1997<Y151-H07504007>
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魚類耳石の酸素同位体比による回遊履歴の解明-二次イオン質量分析法(SIMS)の魚類耳石への応用-

魚類耳石の酸素同位体比による回遊履歴の解明-二次イオン質量分析法(SIMS)の魚類耳石への応用-
紙図書
大竹, 二雄, 三重大学1997-1998<Y151-H09660194>
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二次イオン質量分析法によるウラン・鉛年代測定法の開発

二次イオン質量分析法によるウラン・鉛年代測定法の開発
紙図書
宮野, 敬, 筑波大学1994-1995<Y151-H06640628>
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