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検索結果 419 件

Practical electron microscopy of lattice defects

Practical electron microscopy of lattice defects
紙図書
Hiroyasu SakaWorld Scientific Publishing Co. Pte. Ltd.[2021]<ND448-D2>
国立国会図書館
  • 内容細目...tal Chapter 5. Electron Microscope 5.1 Basic Design of the Electron Microscope 5.2 Electron Diffraction and Electron Microscope 5.3 Electron Diffraction Patt...
  • 件名...s Transmission electron microscopes Electron micr....... Transmission electron microscopes.

Advanced microscopy : photo-thermal and induced -raman microscopy

Advanced microscopy : photo-thermal and induced -raman microscopy
紙図書
Takayoshi KobayashiCRC PRESS2025<MC111-D8>
国立国会図書館
  • 件名...opy. SCIENCE / Electron Microscopes & Microscopy SCIENCE / Micro...

A review: ultrahigh-vacuum technology for electron microscopes

A review: ultrahigh-vacuum technology for electron microscopes
紙図書
Nagamitsu Yoshimura.Academic Press[2020]<NB126-D2>
国立国会図書館全国の図書館
  • 件名Ultrahigh vacuum. Vacuum technology. Electron microscopes.

Scanning microscopies 2015 : 29 September-1 October 2015 : Monterey, California, United States : Sep 2015, Monterey, CA. (SPIE Proceedings ; 9636)

Scanning microscopies 2015 : 29 September-1 October 2015 : Monterey, California, United States : Sep 2015, Monterey, CA. (SPIE Proceedings ; 9636)
紙図書
SPIE[2015]<M17-16-458>
国立国会図書館
  • 件名Scanning electron microscopes--Congresses. Scanning electron microscopes.

新電顕入門ガイドブック

新電顕入門ガイドブック
紙図書
日本顕微鏡学会電子顕微鏡技術認定委員会 編国際文献社2022.5<RA64-M11>
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  • 典拠情報（件名/「を見よ」参照）Electron microscopes

電子顕微鏡 (分析化学実技シリーズ ; 機器分析編 ; 14)

電子顕微鏡 (分析化学実技シリーズ ; 機器分析編 ; 14)
紙図書
長迫実 著共立出版2023.7<ND448-M2>
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  • 典拠情報（件名/「を見よ」参照）Electron microscopes

クライオ電子顕微鏡ハンドブック

クライオ電子顕微鏡ハンドブック
紙図書
難波啓一, 加藤貴之, 牧野文信 監修エヌ・ティー・エス2023.1<RA64-M16>
国立国会図書館全国の図書館
  • 典拠情報（件名/「を見よ」参照）Electron microscopes

Scanning microscopies 2013: advanced microscopy technologies for defense, homeland security, forensic, life, environmental, and industrial sciences : 30 April-1 May 2013 : Baltimore, Maryland, United States : particle beam interaction modeling workshop : scanning microscopies 2013: advanced microscopy technologies for defense, homeland security, forensic, life, environmental, and industrial sciences (conference 8729) : DSS conferences : microscopy for STEM educators workshop : Apr 2013, Baltimore, MD. (SPIE Proceedings ; 8729)

Scanning microscopies 2013: advanced microscopy technologies for defense, homeland security, forensic, life, environmental, and industrial sciences : 30 April-1 May 2013 : Baltimore, Maryland, United States : particle beam interaction modeling workshop : scanning microscopies 2013: advanced microscopy technologies for defense, homeland security, forensic, life, environmental, and industrial sciences (conference 8729) : DSS conferences : microscopy for STEM educators workshop : Apr 2013, Baltimore, MD. (SPIE Proceedings ; 8729)
紙図書
SPIEc2013.<M17-14-673>
国立国会図書館
  • 件名Scanning electron microscopes--Congresses.

Scanning microscopies 2012: advanced microscopy technologies for defense, homeland security, forensic, life, environmental, and industrial sciences : 24-26 April 2012 : Baltimore, Maryland, United States : scanning microscopies 2012: advanced microscopy technologies for defense, homeland security, forensic, life, environmental, and industrial sciences (conference 8378) : DSS meeting : 2012 SPIE defense security+sensing symposium : Apr 2012, Baltimore, MD. (SPIE Proceedings ; 8378)

Scanning microscopies 2012: advanced microscopy technologies for defense, homeland security, forensic, life, environmental, and industrial sciences : 24-26 April 2012 : Baltimore, Maryland, United States : scanning microscopies 2012: advanced microscopy technologies for defense, homeland security, forensic, life, environmental, and industrial sciences (conference 8378) : DSS meeting : 2012 SPIE defense security+sensing symposium : Apr 2012, Baltimore, MD. (SPIE Proceedings ; 8378)
紙図書
SPIEc2012.<M17-12-3978>
国立国会図書館
  • 件名Scanning electron microscopes--Congresses.

クロマツ枯死を電子顕微鏡で解明

クロマツ枯死を電子顕微鏡で解明
紙図書
竹原照明, 田崎和江, 矢方憲三, 田崎史江, 金正逸, 福山厚子, 佐々木直哉 編市民科学出版2020.3<RA64-M4>
国立国会図書館
  • 典拠情報（件名/「を見よ」参照）Electron microscopes

問題と解答結晶電子顕微鏡学

問題と解答結晶電子顕微鏡学
紙図書
坂公恭 著内田老鶴圃2023.1<MC145-M10>
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  • 典拠情報（件名/「を見よ」参照）結晶模型 Electron microscopes

Scanning microscopies 2011: advanced microscopy technologies for defense, homeland security, forensic, life, environmental, and industrial sciences : 26-28 April 2011 : Orlando, Florida, United States : particle beam interaction workshop : SCANNING 2011 meeting : SPIE defense, security, and sensing 2011 (DSS 2011) conference : spring conferences on scanning microscopy : scanning microscopy in forensic science short course : annual SCANNING meetings : Apr 2011, Orlando, FL. (SPIE Proceedings ; 8036)

Scanning microscopies 2011: advanced microscopy technologies for defense, homeland security, forensic, life, environmental, and industrial sciences : 26-28 April 2011 : Orlando, Florida, United States : particle beam interaction workshop : SCANNING 2011 meeting : SPIE defense, security, and sensing 2011 (DSS 2011) conference : spring conferences on scanning microscopy : scanning microscopy in forensic science short course : annual SCANNING meetings : Apr 2011, Orlando, FL. (SPIE Proceedings ; 8036)
紙図書
SPIEc2011.<M17-12-1033>
国立国会図書館
  • 件名Scanning electron microscopes--Congresses.

Scanning microscopy 2010 : 17-19 May 2010 : Monterey, California, United States. : 2nd of the SPIE scanning microscopy symposia : scanning microscopy 2010 meeting : May 2010, Monterey, CA. (SPIE Proceedings ; 7729)

Scanning microscopy 2010 : 17-19 May 2010 : Monterey, California, United States. : 2nd of the SPIE scanning microscopy symposia : scanning microscopy 2010 meeting : May 2010, Monterey, CA. (SPIE Proceedings ; 7729)
紙図書
SPIEc2010.<M17-10-4242>
国立国会図書館
  • 件名Scanning electron microscopes -- Congresses.

Scanning microscopy 2009 : 4-7 May 2009 : Monterey, California, United States. : SPIE scanning microscopy symposiums : scanning microscopy 2009 meeting : May 2009, Monterey, CA. (SPIE Proceedings ; 7378)

Scanning microscopy 2009 : 4-7 May 2009 : Monterey, California, United States. : SPIE scanning microscopy symposiums : scanning microscopy 2009 meeting : May 2009, Monterey, CA. (SPIE Proceedings ; 7378)
紙図書
SPIEc2009.<M17-10-847>
国立国会図書館
  • 件名Scanning electron microscopes -- Congresses.

走査透過電子顕微鏡の物理 (基本法則から読み解く物理学最前線 ; 20)

走査透過電子顕微鏡の物理 (基本法則から読み解く物理学最前線 ; 20)
紙図書
田中信夫 著共立出版2018.8<ND448-L5>
国立国会図書館全国の図書館
  • 典拠情報（件名/「を見よ」参照）Electron microscopes
  • 並列タイトル等（連結）Physics of Scanning Transmission Electron Microscopes
  • 並列タイトル等Physics of Scanning Transmission Electron Microscopes

In-situ characterization of material synthesis and properties at the nanoscale with TEM : April 21-25, 2014 : San Francisco, California, USA : Apr 2014, San Francisco, CA. (Materials Research Society Symposia Proceedings ; 1713)

In-situ characterization of material synthesis and properties at the nanoscale with TEM : April 21-25, 2014 : San Francisco, California, USA : Apr 2014, San Francisco, CA. (Materials Research Society Symposia Proceedings ; 1713)
紙図書
Cambridge University Press[2014]<M17-15-2910>
国立国会図書館
  • 件名.... High-voltage electron microscopes. Silicon--Defects--Testing.

物質・材料研究のための透過電子顕微鏡

物質・材料研究のための透過電子顕微鏡
紙デジタル図書
木本浩司, 三石和貴, 三留正則, 原徹, 長井拓郎 著講談社2020.7<M213-M54>
国立国会図書館全国の図書館
  • 典拠情報（件名/「を見よ」参照）材料工学 物質科学 Materials science Electron microscopes
  • 並列タイトル等（連結）Transmission Electron Microscope for Materials Research
  • 並列タイトル等Transmission Electron Microscope for Materials Research

実践SEMセミナー : 走査電子顕微鏡を使いこなす

実践SEMセミナー : 走査電子顕微鏡を使いこなす
紙デジタル図書
鈴木俊明, 本橋光也 共著裳華房2022.11<ND448-M1>
国立国会図書館全国の図書館
  • 典拠情報（件名/「を見よ」参照）走査形電子顕微鏡 走査電子顕微鏡 SEM セム Scanning electron microscopes

電顕入門ガイドブック 改訂版

電顕入門ガイドブック 改訂版
紙図書
日本顕微鏡学会電子顕微鏡技術認定委員会 編国際文献印刷社2011.4<RA64-J30>
国立国会図書館全国の図書館
  • 典拠情報（件名/「を見よ」参照）Electron microscopes

第二高調波発生顕微鏡による多糖類サクランの自己組織化構造の研究

第二高調波発生顕微鏡による多糖類サクランの自己組織化構造の研究
デジタル博士論文障害者向け資料あり
PHAN, DINH THANG2023-03
国立国会図書館
  • 件名...scopy Scanning electron microscope (SEM) Energy-dispersive X-ray...
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