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DVDで学ぶ実践的ビジネス英語

DVDで学ぶ実践的ビジネス英語
Paper図書
徳田豊, 村上裕美, 高木佐知子, 笹井悦子, 濱崎佳子 著成美堂2011.1<YU47-J1994>
National Diet LibraryOther Libraries in Japan

生体表面微細振動成分の分離とストレス性変動の解析

生体表面微細振動成分の分離とストレス性変動の解析
PaperDigital博士論文障害者向け資料あり
徳田豊 [著]<UT51-97-L472>
Available onlineNational Diet Library

低温堆積AlN,GaN バッファ層/サファイア基板上に作製したMOCVD n-GaN の深い準位の比較

低温堆積AlN,GaN バッファ層/サファイア基板上に作製したMOCVD n-GaN の深い準位の比較
Digital文書・図像類
柴田, 龍成, 本田, 銀熙, 徳田, 豊愛知工業大学2012-03-31愛知工業大学研究報告 = Bulletin of Aichi Institute of Technology47p.165-173
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半導体デバイス工程評価技術 : ライフタイム、DLTS評価を中心として

半導体デバイス工程評価技術 : ライフタイム、DLTS評価を中心として
Paper図書
宇佐美晶, 徳田豊 [著]リアライズ理工センターc2006
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半導体デバイス工程評価技術 : ライフタイム、DLTS評価を中心として

半導体デバイス工程評価技術 : ライフタイム、DLTS評価を中心として
Paper図書
宇佐美晶, 徳田豊 [著]リアライズ・アドバンストテクノロジc2006
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DLTS法によるSiCショットキダイオードの電子トラップの評価

DLTS法によるSiCショットキダイオードの電子トラップの評価
Digital文書・図像類
中嶋, 紘治, 徳田, 豊愛知工業大学2005-03-31愛知工業大学研究報告. B, 専門関係論文集 = Bulletin of Aichi Institute of Technology. Part B40p.19-24
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低温水素イオン注入により導入されたシリコン結晶欠陥の特性分析

低温水素イオン注入により導入されたシリコン結晶欠陥の特性分析
Digital文書・図像類
岩田, 博之, 徳田, 豊, 高木, 誠, 井村, 徹愛知工業大学2003-07-20総合技術研究所研究報告=Bulletin of Research Institute for Industrial Technology.5p.45-49
Other Libraries in Japan

プロトン剥離現象における不純物依存性

プロトン剥離現象における不純物依存性
Digital文書・図像類
岩田, 博之, 高木, 誠, 徳田, 豊, 井村, 徹愛知工業大学2003-01-20総合技術研究所研究報告=Bulletin of Research Institute for Industrial Technology.4p.55-58
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水素援用シリコン結晶性評価技術の開発

水素援用シリコン結晶性評価技術の開発
Paper図書
徳田, 豊, 愛知工業大学1997-1999<Y151-H09650024>
National Diet Library

プロトン注入シリコンの加熱その場観察

プロトン注入シリコンの加熱その場観察
Digital文書・図像類
岩田, 博之, 高木, 誠, 徳田, 豊, 井村, 徹愛知工業大学2001-06-30総合技術研究所研究報告=Bulletin of Research Institute for Industrial Technology.3p.55-61
Other Libraries in Japan

Hイオン注入されたシリコンの欠陥分布観察

Hイオン注入されたシリコンの欠陥分布観察
Digital文書・図像類
岩田, 博之, 高木, 誠, 徳田, 豊, 井村, 徹愛知工業大学2000-06-30総合技術研究所研究報告=Bulletin of Research Institute for Industrial Technology.2p.33-38
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集積回路のための詳解半導体工学演習

集積回路のための詳解半導体工学演習
Paper図書
徳田豊 [ほか]共著工業調査会1996.2<ND371-G45>
National Diet LibraryOther Libraries in Japan

水素イオン注入により発生したシリコン結晶内プレートレットのTEM観察

水素イオン注入により発生したシリコン結晶内プレートレットのTEM観察
Digital文書・図像類
岩田, 博之, 金森, 栄次, 高木, 誠, 徳田, 豊, 井村, 徹愛知工業大学1999-06-30総合技術研究所研究報告=Bulletin of Research Institute for Industrial Technology.1p.31-35
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高ドーズ水素イオン注入シリコンの物性とそのSOI製作への応用

高ドーズ水素イオン注入シリコンの物性とそのSOI製作への応用
Digital文書・図像類
徳田, 豊, 高木, 誠, 岩田, 博之, 大島, 久純, 伊藤, 明愛知工業大学1999-06-30総合技術研究所研究報告=Bulletin of Research Institute for Industrial Technology.1p.97-107
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一定容量電圧過渡分光法によるバルクGaAs結晶中電子トラップの評価

一定容量電圧過渡分光法によるバルクGaAs結晶中電子トラップの評価
Digital文書・図像類
池田, 幸治, 伊藤, 明, 徳田, 豊愛知工業大学1998-03-31愛知工業大学研究報告. B, 専門関係論文集 = Bulletin of Aichi Institute of Technology. Part B33p.43-47
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シリコンの中性子線照射損傷に関する研究

シリコンの中性子線照射損傷に関する研究
Paper博士論文
徳田豊 [著]<UT51-56-D100>
National Diet Library

p型Czochralski成長シリコンウェーハのDLTS評価

p型Czochralski成長シリコンウェーハのDLTS評価
Digital文書・図像類
加藤, 勇夫, 徳田, 豊愛知工業大学1996-03-31愛知工業大学研究報告. B, 専門関係論文集 = Bulletin of Aichi Institute of Technology. Part B30p.9-13
Other Libraries in Japan

パーソナルコンピュータを用いた半導体中トラップの評価システムの製作

パーソナルコンピュータを用いた半導体中トラップの評価システムの製作
Digital文書・図像類
徳田, 豊, 下方, 稔久愛知工業大学1992-03-31愛知工業大学研究報告. B, 専門関係論文集 = Bulletin of Aichi Institute of Technology. Part B27p.23-29
Other Libraries in Japan

X線光電子分光法によるGaAs表面の評価

X線光電子分光法によるGaAs表面の評価
Digital文書・図像類
徳田, 豊, 鈴木, 均, 井上, 彌治郎愛知工業大学1991-03-31愛知工業大学研究報告. B, 専門関係論文集 = Bulletin of Aichi Institute of Technology. Part B26p.27-31
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半導体デバイス工程評価技術 : ライフタイム、DLTS評価を中心として

半導体デバイス工程評価技術 : ライフタイム、DLTS評価を中心として
PaperDigital図書
宇佐美晶, 徳田豊 [著]リアライズ社1990.9<ND371-E83>
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